前 言
JB/T4730.1—4730.6—2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》分為六個(gè)部分：
——第1部分：通用要求；
——第2部分：射線檢測(cè)；
——第3部分：超聲檢測(cè)；
——第4部分：磁粉檢測(cè)；
——第5部分：滲透檢測(cè)；
——第6部分：渦流檢測(cè)。
本部分為JB/T4730.1—4730.6—2005的第3部分：超聲檢測(cè)。本部分主要根據(jù)國(guó)內(nèi)多年的研究成果和應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)，參考ASTM《鍋爐壓力容器規(guī)范》第V卷和JIS標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范以及行業(yè)反饋意見進(jìn)行修訂。本部分與JB4730—1994相比主要變化如下：
1、對(duì)壁厚小于3倍近場(chǎng)區(qū)工件材質(zhì)衰減系數(shù)公式進(jìn)行修正；增加了奧氏體不銹鋼和雙相不銹鋼板、鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材超聲檢測(cè)內(nèi)容；統(tǒng)一了爆炸和軋制復(fù)合鋼板超聲檢測(cè)內(nèi)容。
2、將鋼制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)范圍擴(kuò)大到6mm—400mm，對(duì)對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)試塊進(jìn)行了局部調(diào)整；增加了鋼制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)等級(jí)分類的內(nèi)容；增加了T型烘干焊接接頭以及奧氏體不銹鋼承壓對(duì)接接頭的超聲檢測(cè)內(nèi)容。
3、增加了壁厚大于或等于4mm，外徑為32mm-159mm或壁厚為4mm-6mm，外徑大于或等于159mm的鋼制承壓設(shè)備管子，壓力管道環(huán)向?qū)咏宇^超聲檢測(cè)內(nèi)容；增加了壁厚大于或等于5mm，外徑為80 mm -159 mm或壁厚為5 mm -8 mm，外徑大于或等于159 mm的鋁及鋁合金環(huán)向?qū)雍附咏宇^超聲檢測(cè)內(nèi)容。
4、增加了在用承壓設(shè)備超聲檢測(cè)內(nèi)容。
本部分附錄A至附錄L為規(guī)范性附錄；附錄M、附錄N為資料性附錄。
本部分由全國(guó)鍋爐壓力容器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC 262）提出。
本部分由全國(guó)鍋爐壓力容器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC 262）歸口。
本部分主要起草人：袁榕、姚志忠、康紀(jì)黔、閻長(zhǎng)周、肖家偉、許遵言、潘榮寶、陳程玉。
承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)
第3部分：超聲檢測(cè)
3 一般要求
3．1 超聲檢測(cè)人員
超聲檢測(cè)人員的一般要求應(yīng)符合JB/T4730.1的有關(guān)規(guī)定。
3．2 檢測(cè)設(shè)備
3．2．1 超聲檢測(cè)設(shè)備均應(yīng)具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或合格和證明文件。
3．2．2 探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能
3．2．2．1 探傷儀
采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其工件頻率范圍為0.5-10MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB，其精度為任意相鄰12dB誤差在±1dB以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不超過(guò)1dB。水平線性誤差不大于1%，垂直線性誤差不大于5%。其余指標(biāo)應(yīng)符合JB/T10061的規(guī)定。
3．2．2．2 探頭
3．2．2．2．1 晶片面積一般不應(yīng)大于500mm²，且任一邊長(zhǎng)原則上不大于25mm。
3．2．2．2．2 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2º，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。
3．2．2．3 超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能
3．2．2．3．1 在達(dá)到所探工件的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。
3．2．2．3．2 儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于±10%。
3．2．2．3．3 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度（在基準(zhǔn)靈敏度下）：對(duì)于頻率為5MHz的探頭，其占寬不得大于10mm；對(duì)于頻率為2.5MHz的探頭，其占寬不得大于15mm。
3．2．2．3．4 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于6dB。
3．2．2．3．5 儀器和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按 JB/T9214和JB/T10062的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。
3．3 超聲檢測(cè)一般方法
3．3．1 檢測(cè)準(zhǔn)備
3．3．1．1 承壓設(shè)備的制造、安裝和在用檢驗(yàn)中，超聲檢測(cè)的檢測(cè)時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定。
3．3．1．2 所確定檢測(cè)面應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。
3．3．1．3 焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢測(cè)合格。所有影響超聲檢測(cè)的銹蝕、飛濺和污物等都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測(cè)結(jié)果的正確性和完整性，否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚怼?br />
3．3．2 掃查復(fù)蓋率
為確保檢測(cè)時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查復(fù)蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。
3．3．3 探頭的移動(dòng)速度
探頭的掃查速度不應(yīng)超過(guò)150mm/s。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，不受此限。
3．3．4 掃查靈敏度
掃查靈敏度通常不低于基準(zhǔn)靈敏度。
3．3．5 耦合劑
應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面的耦合劑，如機(jī)油、漿糊、甘油和水等。
3．3．6 靈敏度補(bǔ)償
a）、耦合補(bǔ)償
在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。
b）、衰減補(bǔ)償
在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)材質(zhì)衰減引起的檢測(cè)靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。
c）、曲面補(bǔ)償
對(duì)于探測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊,通過(guò)對(duì)比試驗(yàn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償。
3．4 系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核
3．4．1 一般要求
系統(tǒng)校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定的和最大的反射信號(hào)。
3．4．2 儀器校準(zhǔn)
每隔三個(gè)月至少對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測(cè)定，測(cè)定方法按JB/T10061的規(guī)定。
3．4．3 新購(gòu)探頭測(cè)定
新購(gòu)探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說(shuō)明書，新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等參數(shù)的測(cè)定。測(cè)定應(yīng)按JB/T10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行，并滿足其要求。
3．4．4 檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)測(cè)定
3．4．4．1 使用儀器—— 斜探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。
3．4．4．2 使用儀器——直探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。
3．4．5 檢測(cè)過(guò)程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核
遇有下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：
a）、校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋紐發(fā)生改變時(shí)；
b）、檢測(cè)者懷疑靈敏度有變化時(shí)；
c）、連續(xù)工作4小時(shí)以上時(shí)；
d）、工作結(jié)束時(shí)。
3．4．6 檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核
a）、每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描讀數(shù)的10%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)核。
b）、每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。一般對(duì)距離——波幅曲線的校核不應(yīng)少于3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2 dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2 dB，則應(yīng)對(duì)所的的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。
3．4．7 校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng)
校準(zhǔn)、復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線性檢測(cè)時(shí)，任何影響儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開關(guān)等）都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。
3．5 試塊
3．5．1 標(biāo)準(zhǔn)試塊
3．5．1．1 標(biāo)準(zhǔn)試塊是指本部分規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊，本部分采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊有：
a）、鋼板用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CBI、CBII；
b）、鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSI、CSII、CSIII；
c）、焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA、CSK-IVA。
3．5．1．2 標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢工件聲學(xué)性能相同或近似的材料制成。該材料用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于或等于Φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。
3．5．1．3 標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合本部分的要求，并應(yīng)經(jīng)計(jì)量部門檢定合格。
3．5．1．4 標(biāo)準(zhǔn)試塊的其他制造要求應(yīng)符合JB/T10063和JB/T7913的規(guī)定。
3．5．2 對(duì)比試塊
3．5．2．1 對(duì)比試塊是指用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。
3．5．2．2 對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測(cè)，試塊的厚度應(yīng)由其最大厚度來(lái)確定。
3．5．2．3 對(duì)比試塊反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合本部分的規(guī)定。
4 承壓設(shè)備用原材料、零部件的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)
4．1 承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)
4．1．1 范圍
本條適用于板厚為6mm-250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。
奧氏體鋼板材、鎳及鎳合金板材以及雙相不銹鋼板材的超聲檢測(cè)也可參照本章執(zhí)行。
4．1．2 探頭選用
4．1．2．1 探頭選用應(yīng)按表1的規(guī)定進(jìn)行。
表1 承壓設(shè)備用板材超聲檢測(cè)探頭選用
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板厚mm |
采用探頭 |
公稱頻率MHz |
探頭晶片尺寸 |
|
6-20 |
雙晶直探頭 |
5 |
晶片面積不小于150mm² |
|
＞20-40 |
單晶直探頭 |
5 |
Φ14mm -Φ20mm |
|
＞40-250 |
單晶直探頭 |
2．5 |
Φ20mm-Φ25mm |
4．1．2．2 雙晶直探頭性能應(yīng)符合附錄A（規(guī)范性附錄）的要求。
4．1．3 標(biāo)準(zhǔn)試塊
4．1．3．1 用雙晶直探頭檢測(cè)厚度不大于20 mm的鋼板時(shí)，采用如圖1所示的CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊。
4．1．3．2 用單直探頭檢測(cè)厚度大于20 mm的鋼板時(shí)，CSII 標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)符合圖2和表2的規(guī)定。試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近。如經(jīng)合同雙方協(xié)商同意，也可采用雙晶直探頭進(jìn)行檢測(cè)。
圖1 CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊
圖2 CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊
表2 CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊
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試塊編號(hào) |
被檢鋼板厚度 |
檢測(cè)面到平底孔的距離S |
試樣厚度T |
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CBII -1 |
＞20-40 |
15 |
≥20 |
|
CBII -2 |
＞40-60 |
30 |
≥40 |
|
CBII -3 |
＞60-100 |
50 |
≥65 |
|
CBII -4 |
＞100-160 |
90 |
≥110 |
|
CBII -5 |
＞160-200 |
140 |
≥170 |
|
CBII -6 |
＞200-250 |
190 |
≥220 |
4．1．4 基準(zhǔn)靈敏度
4．1．4．1 板厚不大于20mm時(shí)，用CBII試塊將工件等厚度部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10 dB作為檢測(cè)靈敏度。
4．1．4．2 板厚大于20mm時(shí)，應(yīng)將CBII試塊Φ5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為檢測(cè)靈敏度。
4．1．4．3 板厚不小于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，也可取鋼板無(wú)缺陷的完好部位的第一次底波來(lái)校準(zhǔn)靈敏度，其結(jié)果應(yīng)與4．1．4．2條的要求相一致。
4．1．5 檢測(cè)方法
4．1．5．1 檢測(cè)面
可選鋼板的任一軋制表面進(jìn)行檢測(cè)。若檢測(cè)人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí)，也可選鋼板的上、下兩軋制表面分別進(jìn)行檢測(cè)。
4．1．5．2 耦合方式
耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。
4．1．5．3 掃查方式
a）、探頭沿垂直于于壓延方向，間距不大于100mm的平等線進(jìn)行掃查。在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（當(dāng)板厚超過(guò)100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查示意圖如圖3。
圖3 探頭掃查示意圖
b）、根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可進(jìn)行其它形式的掃查。
4．1．6 缺陷的測(cè)定與記錄
4．1．6．1 在檢測(cè)過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一者即作為缺陷：
a）、缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50%，即F1≥50%。
b）、當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高未達(dá)到滿刻度時(shí)，缺陷第一次反射波（F1）波高與底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于50%，即B1＜100%，而F1/B1≥50%。
c）、底面第一次反射波（B1）波高低于滿刻度的50%，即B1＜50%。
4．1．6．2 缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度的測(cè)定方法
a）、檢驗(yàn)出缺陷后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)進(jìn)行檢驗(yàn)，以確定缺陷的范圍。
b）、用雙晶片探頭確定缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。
c）、用單直探頭確定缺陷邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭。使缺陷第一次反射波波高下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波高為50%。此時(shí)，探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。
d）、確定4．1．6．1 c中缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭（單直探頭或雙直探頭）使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50%。此時(shí)探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。
e）、當(dāng)板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次底波來(lái)評(píng)定缺陷時(shí)，基準(zhǔn)備就緒靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反射波來(lái)校準(zhǔn)。
4．1．7 缺陷的評(píng)定規(guī)則
單個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度，若單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度小于40 mm時(shí)，可不作記錄。
4．1．7．2 單個(gè)缺陷指示面積的評(píng)定規(guī)則
a）、一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個(gè)缺陷的單個(gè)指示面積。
b）、多個(gè)缺陷其相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰小缺陷的指示長(zhǎng)度（取其較大值）時(shí)，以各缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積。
c）、指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見表3。
表3 鋼板質(zhì)量分級(jí)
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等級(jí) |
單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度mm |
單個(gè)缺陷的指示面積cm² |
在任一1 m×1 m檢驗(yàn)面積內(nèi)存在的缺陷面積百分比/% |
以下單個(gè)缺陷指示面積不記/ cm² |
|
I |
＜80 |
＜25 |
≤3 |
＜9 |
|
II |
＜100 |
＜50 |
≤5 |
＜15 |
|
III |
＜120 |
＜100 |
≤10 |
＜25 |
|
IV |
＜150 |
＜100 |
≤10 |
＜25 |
|
V |
超過(guò)IV級(jí)者 |
4．1．7．3 缺陷面積百分比的評(píng)定規(guī)則
4．1．7．4 在任1m×1m檢測(cè)面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來(lái)確定。如鋼板面積小于1m×1m，可按比例折算。
4．1．8 鋼板質(zhì)量分級(jí)
4．1．8．1 鋼板質(zhì)量分級(jí)見表3。
4．1．8．2 在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（板厚大于100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺陷的指示長(zhǎng)度大于或等于50mm時(shí)，應(yīng)評(píng)為V級(jí)。
4．1．8．3 在檢測(cè)過(guò)程中，檢測(cè)人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評(píng)為V級(jí)。
4．1．9 橫波檢測(cè)
4．1．9．1 在檢測(cè)過(guò)程中對(duì)缺陷有疑問(wèn)或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時(shí)，可采用橫波檢測(cè)。
4．1．9．2 鋼板橫波檢測(cè)應(yīng)按附錄B（規(guī)范性附錄）進(jìn)行。
8 超聲檢測(cè)報(bào)告
超聲檢測(cè)報(bào)告至少應(yīng)包括以下內(nèi)容：
a）、委托單位；
b）、被檢工件：名稱、編號(hào)、規(guī)格、材質(zhì)、坡口型式、焊接方法和熱處理狀態(tài)；
c）、檢測(cè)設(shè)備：探傷儀、探頭、試塊；
d）、檢測(cè)規(guī)范：技術(shù)等級(jí)、探頭K值、探頭頻率、檢測(cè)面和檢測(cè)靈敏；
e）、檢測(cè)部位及缺陷的類型、尺寸、位置和分布的應(yīng)在草圖上予以標(biāo)明，如有因幾何開關(guān)限制而檢測(cè)不到的部位，也應(yīng)加以說(shuō)明；
f）、檢測(cè)結(jié)果及質(zhì)量分級(jí)、檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)名稱和驗(yàn)收等級(jí)；
g）、檢測(cè)人員和責(zé)任人員簽字及其技術(shù)資格；
h）、檢測(cè)日期。
附錄A
（規(guī)范性附錄）
雙晶片直探頭性能要求
A1 距離—波幅特性曲線
采用本部分圖2試塊，在各個(gè)厚度上測(cè)定其回波高度（dB），作出如圖A1所示的特性曲線，該特性曲線必須滿足下述條件：
a、 在厚度19mm上的回波高度，與最大回波高度差應(yīng)在3dB～-6dB的范圍內(nèi)。
b 、 在厚度3mm上的回波高度，與最大回波高度差應(yīng)在3dB～-6dB的范圍內(nèi)。
A2 表面回波高度
直接接觸法測(cè)得的表面回波高度，應(yīng)比最大回波高度低40dB以上。
A3 檢出靈敏度
移動(dòng)探頭對(duì)準(zhǔn)圖A-2試塊ф5.6mm平底孔，其回波高度與最大回波高度差應(yīng)在-10dB±2dB的范圍內(nèi)。
A4 有效波束寬度
對(duì)準(zhǔn)圖A-2試塊ф5.6mm平底孔，與聲波分割面平行地移動(dòng)探頭，按6 dB法測(cè)定波束寬度，對(duì)于承壓設(shè)備用的鋼板檢測(cè)，其有效值應(yīng)大于16mm。
圖A-1 雙晶直探頭距離—波幅特性曲線
圖 A-2 測(cè)定儀器和探頭組合性能試樣
附錄B
（規(guī)范性附錄）
承壓設(shè)備用鋼板超聲橫波檢測(cè)
B．1 范圍
本附錄規(guī)定了用斜探頭（橫波）檢測(cè)鋼板中非夾層性缺陷的超聲檢測(cè)方法，并將其作為直探頭檢測(cè)的補(bǔ)充。
B．2 檢測(cè)裝置
B．2．1 原則上選用K1斜探頭，圓晶片直徑應(yīng)在13 mm -25 mm之間，方晶片面積應(yīng)不小于200 mm²。如有特殊需要也可選用其他尺寸和K值的探頭。
B．2．2 檢測(cè)頻率為2MHz-5MHz。
B．3 對(duì)比試塊
B．3．1 對(duì)比試塊用鋼板應(yīng)與被檢鋼板厚度相同，聲學(xué)特性相同或相似。
B．3．2 對(duì)比試塊上的人工缺陷反射體為V形槽，角度為60º，槽深為板厚的3%，槽的長(zhǎng)度至少為25 mm。
B．3．3 對(duì)比試塊的尺寸、V形槽位置應(yīng)符合圖B．1的規(guī)定。
圖B．1 對(duì)比試塊
B．3．4 對(duì)于厚度超過(guò)50 mm的鋼板，要在鋼板的底面加工第二個(gè)如B．3．3所述的校準(zhǔn)槽。
B．4 基準(zhǔn)靈敏度的確定
B．4．1 厚度小于或等于50 mm的鋼板
B．4．1．1 把探頭置于試塊有槽的一面，使聲束對(duì)準(zhǔn)槽的寬邊，找出第一個(gè)全跨距反射的最大波幅，調(diào)整儀器，使該反射波的最大波幅為滿刻度的80%，在熒光屏上記錄下該信號(hào)的位置。
B．4．1．2 移動(dòng)探頭，得到第二個(gè)全跨距信號(hào)，并找出信號(hào)最大反射波幅，記下這一信號(hào)幅值點(diǎn)在熒光屏的位置，將熒光屏上這兩個(gè)槽反射信號(hào)幅值點(diǎn)連成一直線，此線即為距離——波幅曲線。
B．4．2 厚度大于50 mm至150 mm的鋼板
B．4．2．1 將探頭聲束對(duì)準(zhǔn)試塊背面的槽，并找出第一個(gè)1/2跨距反射的最大波幅。調(diào)節(jié)儀器，使反射波幅為滿刻度的80%，在熒光屏上記下這個(gè)信號(hào)的位置。不改變儀器調(diào)整狀態(tài)，在3/2跨距上重復(fù)該項(xiàng)操作。
B．4．2．2 不改變化儀器調(diào)整狀態(tài)，把探頭再次置于試塊表面，使波束對(duì)準(zhǔn)試塊表面上的槽，并找出全跨距最大反射波的位置。在熒光屏上記下這一幅值點(diǎn)。
B．4．2．3 在熒光屏上將B．4．2．1和B．4．2．2所確定的點(diǎn)相連接，此線即為距離——波幅曲線。
B．4．3 厚度大于150 mm至250 mm的鋼板
B．4．3．1 把探頭置于試塊表面，使聲束對(duì)準(zhǔn)試塊底面上的切槽，并找出第一個(gè)1/2跨距反射的最大幅度位置。調(diào)節(jié)儀器，使這一反射波為熒光屏滿刻度的80%，在熒光屏上記下這個(gè)幅值點(diǎn)。
B．4．3．2 不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，把探頭再次置于試塊表面，以全跨距對(duì)準(zhǔn)切槽獲得最大反射，在熒光屏上記下這個(gè)幅值點(diǎn)。
B．4．3．3 在熒光屏上將B．4．3．1和B．4．3．2所確定的點(diǎn)連成一直線，此線即為距離——波幅曲線。
B．5 掃查方法
B．5．1 在鋼板的軋制面上以垂直和平行于鋼板主要壓延方向的格子線進(jìn)行掃查，格子線中心距為200 mm。
B．5．2 當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷信號(hào)時(shí)，移動(dòng)探頭使之能在熒光屏上得到最大反射。
B．5．3 對(duì)于波幅等于或超過(guò)距離——波幅曲線的缺陷顯示，應(yīng)記錄其位置，并移動(dòng)探頭使波幅降到滿刻度的25%來(lái)測(cè)量長(zhǎng)度。對(duì)于波幅低于距離—波幅曲線的缺陷，當(dāng)指示長(zhǎng)度較長(zhǎng)時(shí)，也可記錄備案。
B．5．4 在每一個(gè)記錄缺陷位置上，應(yīng)以記錄缺陷中心起，在200mm×200 mm的區(qū)域作100%檢測(cè)。
B．6 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
等于或超過(guò)距離——波幅曲線的任何缺陷信號(hào)均應(yīng)認(rèn)為是不合格的。但是以縱波方法作輔助檢測(cè)時(shí)，若發(fā)現(xiàn)缺陷性質(zhì)是分層類的，則應(yīng)按縱波檢測(cè)的規(guī)定處理。
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2970-2004
厚 鋼 板 超 聲 波 檢 驗(yàn) 方 法
前 言
本標(biāo)準(zhǔn)代替GB / T 2970-1991《中厚鋼板超聲波檢驗(yàn)方法》。
本標(biāo)準(zhǔn)與GB / T 2970-1991相比，主要變化如下：
——本標(biāo)準(zhǔn)適用范圍也可以包括奧氏體不銹鋼板；
——雙晶片直探頭可探厚度范圍由原20mm擴(kuò)大到60mm；
——自動(dòng)檢驗(yàn)用試樣有較大簡(jiǎn)化；
——雙晶直探頭性能要求有所改變；
——對(duì)鋼板中不允許存在的單個(gè)的缺陷的要求有所提高。
本標(biāo)準(zhǔn)附錄A為規(guī)范性附錄。
本標(biāo)準(zhǔn)由是國(guó)鋼鐵工業(yè)協(xié)會(huì)提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)鋼標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：鋼鐵研究總院，冶金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：張廣純、張建衛(wèi)、范弘、賈慧明、黃穎、董莉。
本標(biāo)準(zhǔn)所代替的歷次版本發(fā)布情況為：
——GB 2970-1982、GB 2970-1991。
厚 鋼 板 超 聲 波 檢 驗(yàn) 方 法
1 范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了厚鋼板超聲波檢驗(yàn)對(duì)比試樣、檢驗(yàn)儀器和設(shè)備、檢驗(yàn)條件與方法、缺陷的測(cè)定與評(píng)定、鋼板的質(zhì)量分級(jí)、檢驗(yàn)報(bào)告等內(nèi)容。
本標(biāo)準(zhǔn)適用范圍于厚度不小于6 mm的鍋爐、壓力容器、橋梁、建筑、造船、鋼結(jié)構(gòu)、管線、模具等用途鋼板的超聲波檢驗(yàn)。奧氏體不銹鋼板也可參照本標(biāo)準(zhǔn)。
2 規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB / T 8651 金屬板材超聲波探傷方法
GB / T 12604.1 無(wú)損檢測(cè)術(shù)語(yǔ) 超聲檢測(cè)
JB / T 1006 A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件
JB 4730—1994 壓力容器無(wú)損檢測(cè)
3 一般要求
3．1 被檢板材表面應(yīng)平整、光滑、厚度均勻，不應(yīng)有液滴、油污、腐蝕和其他污物。
3．2 被檢板材的金相組織不應(yīng)在檢驗(yàn)時(shí)產(chǎn)生影響檢驗(yàn)的干擾回波。
3．3 檢驗(yàn)場(chǎng)地應(yīng)避開強(qiáng)光、強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)振動(dòng)、腐蝕性氣體、嚴(yán)重粉塵等影響超聲波探傷儀穩(wěn)定性或檢驗(yàn)人員可靠觀察的因素。
3．4 從事鋼板超聲波檢驗(yàn)人員應(yīng)經(jīng)過(guò)培訓(xùn)，并取得權(quán)威部門認(rèn)可的超聲探傷專業(yè)I級(jí)及其以上資格證書。簽發(fā)探傷報(bào)告者應(yīng)獲得權(quán)威部門認(rèn)可的超聲探傷專業(yè)II級(jí)及其以上資格證書。
3．5 檢驗(yàn)方式可采用手工的接觸法、液浸法（包括局部液浸法和壓電探頭或電磁超聲探頭的自動(dòng)檢驗(yàn)法）。
3．6 所采用的超聲波型可為縱波、橫波和板波。
4 對(duì)比試樣
4．1 對(duì)比試樣材質(zhì)、聲學(xué)性能應(yīng)與被檢驗(yàn)鋼板相同或相似，并應(yīng)保證內(nèi)部不存在影響檢驗(yàn)的缺陷。
4．2 用雙晶直探頭檢驗(yàn)厚度不大于60mm的鋼板時(shí)，所用對(duì)比試樣如圖1所示。
4．3 用單晶片直探頭檢驗(yàn)鋼板時(shí)，對(duì)比試樣應(yīng)符合圖2、表1和表2的規(guī)定。
4．4 用壓電或電磁超聲自動(dòng)超聲檢驗(yàn)方法時(shí)，試樣長(zhǎng)邊應(yīng)平行于壓延方向，端面應(yīng)平直，厚度公差應(yīng)小于板厚2%。人工缺陷的位置如圖3所示。
4．5 采用板波、橫波檢驗(yàn)的對(duì)比試樣形式見GB / T 8651和JB 4730-1994附錄H。
注：垂直度а隨試塊厚度變化見表2。
圖2 單晶直探頭檢驗(yàn)用對(duì)比試樣
表1 單晶片直探頭用對(duì)比試樣
|
試塊編號(hào) |
被檢驗(yàn)鋼板厚度 |
檢驗(yàn)面到平底孔的距離S |
試樣厚度Y |
|
1 |
＞13-20 |
7 |
≥15 |
|
2 |
＞20-40 |
15 |
≥20 |
|
3 |
＞40-60 |
30 |
≥40 |
|
4 |
＞60-100 |
50 |
≥65 |
|
5 |
＞100-160 |
90 |
≥110 |
|
6 |
＞160-200 |
140 |
≥170 |
表2 垂直度а隨試樣厚度變化
|
試樣厚度 |
＞20-40 |
＞40-60 |
＞60-100 |
＞100-160 |
＞160-200 |
＞200 |
|
a |
0.15 |
0.20 |
0.25 |
0.30 |
0.40 |
0.55 |
鋼板壓延方向
注 1：1﹟、2﹟人工缺陷為人工平底槽，加云母焊合，埋藏深度為板厚的1/2，缺陷自身高度為0mm～0.3mm;3﹟為表面銑槽(槽深為3 mm);
注 2： 1﹟、2﹟、3﹟人工缺陷的長(zhǎng)×寬為50 mm ×10mm；
注 3：根據(jù)探傷模式的不同，可在適當(dāng)位置增加適當(dāng)數(shù)量直徑為5 mm的當(dāng)量平底孔（孔深按表1） 。
圖3 自動(dòng)超聲檢驗(yàn)用動(dòng)態(tài)試樣
5 檢驗(yàn)儀器和設(shè)備
5．1 探傷儀
所用探傷儀的性能應(yīng)符合GB /T 8651或JB / T10061的有關(guān)規(guī)定。
5．2 換能器
5．2．1 壓電直探頭的選用如表3。
不管選用哪種探頭，都要保證有效探測(cè)區(qū)。板厚大于60mm時(shí)，若雙晶片直探頭性能指標(biāo)能達(dá)到單晶片直探頭，也可選用雙晶片直探頭。
表3的應(yīng)用
|
板厚/mm |
所用探頭 |
探頭標(biāo)稱頻率/MHz |
|
6-13 |
雙晶片直探頭 |
5 |
|
＞13-60 |
雙晶片直探頭或單晶片直探頭 |
≥2.0 |
|
＞60 |
單晶片直探頭 |
≥2.0 |
5．2．2 雙晶片直探頭的性能應(yīng)符合附錄A的要求。
5．2．3 當(dāng)采用板波法進(jìn)行探傷時(shí)，波型、波模及檢驗(yàn)方法的選擇應(yīng)符合GB /T 8651的要求。
5．2．4 當(dāng)采用橫波探傷時(shí)，可參照J(rèn)B 4730 – 1994的附錄H。
6 檢驗(yàn)條件和方法
6．1 原則上在鋼板上加工完畢后進(jìn)行，也可在軋制后進(jìn)行。
6．2 檢驗(yàn)面
可以從鋼板任一軋制面進(jìn)行檢驗(yàn)，被檢驗(yàn)鋼板的表面應(yīng)平整，應(yīng)清除影響檢驗(yàn)的氧化皮、腐蝕、油污等。
6．3 檢驗(yàn)靈敏度
6．3．1 用壓電探頭時(shí)，檢驗(yàn)靈敏度應(yīng)計(jì)入對(duì)比試樣與被檢驗(yàn)鋼板之間的表面耦合聲能損失（dB）。
6．3．2 用雙晶片直探頭檢驗(yàn)時(shí)，用圖1試樣或在同厚度鋼板上將第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%，再提高靈敏度10 dB作為檢驗(yàn)靈敏度。
6．3．3 用單晶片直探頭檢驗(yàn)時(shí)，靈敏度按圖2試樣平底孔的第一次反射波高等于滿刻度的50%來(lái)校準(zhǔn)。
6．3．4 板厚大于探頭3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，檢驗(yàn)靈敏度用計(jì)算法、通過(guò)第一次底面回波高度來(lái)確定。
6．3．5 在動(dòng)態(tài)狀況下，也可利用4.4中所述的動(dòng)態(tài)試樣中相應(yīng)的缺陷，在無(wú)雜波的情況下，使人工缺陷反射波高不低于儀器熒光屏刻度的50%，再提高10 dB作為檢驗(yàn)靈敏度。
6．4 探頭掃查形式
6．4．1 用壓電探頭時(shí)，探頭沿垂直于鋼板壓延方向、間距不大于100 mm的平等線進(jìn)行掃查；在鋼板周圍50 mm（板厚大于100 mm時(shí)，取板厚的一半）及坡口預(yù)定線（由供需雙方在合同或技術(shù)協(xié)議中確定具體位置）兩側(cè)各25 mm內(nèi)沿周邊進(jìn)行掃查。
6．4．2 用雙晶片探頭時(shí)，探頭隔聲層應(yīng)與壓延方向平行（垂直于壓延方向掃查）。
6．4．3 根據(jù)合同或技術(shù)協(xié)議或圖紙要求，也可進(jìn)行其他形式的掃查或100%掃查。
6．4．4 自動(dòng)檢驗(yàn)也可沿平行于鋼板壓延方向掃查。
6．5 檢驗(yàn)速度
檢驗(yàn)速度應(yīng)不影響探傷，但在使用不帶自動(dòng)報(bào)警功能的探傷裝置進(jìn)行掃查時(shí)，檢驗(yàn)速度不大于200mm/s。
7 缺陷的測(cè)定與評(píng)定
7．1 在檢驗(yàn)過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)下列情況應(yīng)記錄
7．1．1 缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50%。
7．1．2 當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高未達(dá)到滿刻度時(shí)，缺陷第一次反射波（F1）波高與底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于50%。
7．1．3 當(dāng)?shù)酌妫ɑ虬宥瞬浚┑谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高低于滿刻度的50%。
7．2 缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度的測(cè)定方法
7．2．1 檢驗(yàn)出缺陷后，在周圍進(jìn)行檢驗(yàn)，以確定缺陷的延伸。
7．2．2 用雙晶片探頭確定缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，探頭移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。
7．2．3 利用半波高度法確定缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度。
7．2．4 確定7．1．2中缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭，將板底面（或端部）第一次反射波升高到檢驗(yàn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的50%。此時(shí)，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。
7．2．5 采用自動(dòng)超聲波方法檢驗(yàn)時(shí)，發(fā)現(xiàn)可疑缺陷后，缺陷的定量定位可用手工方法進(jìn)行。缺陷的指示長(zhǎng)度及邊界的精確測(cè)定亦用人工方法。
7．3 缺陷指示長(zhǎng)度的評(píng)定規(guī)則
單個(gè)缺陷按其表現(xiàn)的最大長(zhǎng)度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度，若指示長(zhǎng)度小于40 mm時(shí)，則其長(zhǎng)度可不作記錄。
7．4 單個(gè)缺陷指示面積的評(píng)定規(guī)則
7．4．1 單個(gè)缺陷按其表現(xiàn)的面積作為該缺陷的單個(gè)面積指示面積。
7．4．2 當(dāng)多個(gè)缺陷的相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰缺陷（以指示長(zhǎng)度來(lái)比較）的指示長(zhǎng)度（取其較大值）時(shí)，其各塊缺陷面積之和也作為單個(gè)缺陷指示面積。
7．5 缺陷密集的評(píng)定規(guī)則
在任一1 m×1 m 檢驗(yàn)面積內(nèi)，按缺陷面積占的百分比來(lái)確定。
8 鋼板的質(zhì)量分級(jí)
8．1 鋼板質(zhì)量分級(jí)見表4。
8．2 在鋼板周邊50 mm（板厚大于100mm時(shí)，取板厚的一半）可檢驗(yàn)區(qū)域內(nèi)及坡口預(yù)定線兩側(cè)各25mm內(nèi)，單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度不得大于或等于50mm。
表4 鋼板質(zhì)量分級(jí)
|
級(jí)別 |
不允許存在的單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度/mm |
不允許存在的單個(gè)缺陷的指示面積/cm² |
在任一1 m×1 m檢驗(yàn)面積內(nèi)不允許存在的缺陷面積百分比/% |
以下單個(gè)缺陷指示面積不記/ cm² |
|
I |
≥80 |
≥25 |
＞3 |
＜9 |
|
II |
≥100 |
≥50 |
＞5 |
＜15 |
|
III |
≥120 |
≥100 |
＞10 |
＜25 |
|
IV |
≥150 |
≥100 |
＞10 |
＜25 |
9 檢驗(yàn)報(bào)告
檢驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包括下列內(nèi)容：
a） 工件情況：材料牌號(hào)、材料厚度等；
b） 檢驗(yàn)條件：探傷儀型號(hào)、探頭類型、探頭標(biāo)稱頻率、晶片尺寸、耦合劑、對(duì)比試樣等；c） 檢驗(yàn)結(jié)果：包括缺陷位置、缺陷分布示意圖、缺陷等級(jí)及其他；
d） 檢驗(yàn)人員、報(bào)告簽發(fā)人的姓名及資格等極、檢驗(yàn)日期、報(bào)告簽發(fā)日期等。
附錄A
（規(guī)范性附錄）
雙晶片直探頭性能要求
A．1探頭性能
A．1．1 距離—波幅特性曲線
用圖所示試樣測(cè)定每一厚度的回波高度，作出如圖A．1所示的特性曲線，其必須滿足下述條件：
A．1．1．1 要檢測(cè)的最大厚度的底面回波高度與最大回波高度差應(yīng)在0dB～-6dB的范圍內(nèi)。對(duì)于與具有距離幅度補(bǔ)償功能的儀器聯(lián)合使用的雙晶片直探頭，補(bǔ)嘗后要求檢測(cè)的最大厚度的底面回波高度與最大回波高度差也應(yīng)在0dB～-6dB的范圍內(nèi)。
A．1．1．2 距離為3mm處的回波高度與最大回波高度差應(yīng)在0dB～-6dB的范圍內(nèi)。對(duì)于與具有距離幅度補(bǔ)償功能的儀器聯(lián)合使用的雙晶片直探頭，補(bǔ)償后要求距離為3mm處的回波高度與最大回波高度差也應(yīng)在0dB～-6dB的范圍內(nèi)。
A．1．2 雙晶片探頭的表面泄露回波高度
直接接觸法測(cè)得的雙晶片探頭的表面泄露回波高度必須比最大回波高度低40dB。
A．1．3 檢出靈敏度（用圖A.2試樣測(cè)量）
圖A.2試樣平底孔的回波高度與最大回波高度差必須在-10dB±2dB的范圍內(nèi)。
A．1．4 有效波束寬度
使探頭對(duì)準(zhǔn)A.2試塊ф5.6mm平底孔，并平等于雙晶探頭的聲場(chǎng)分割面移動(dòng)，測(cè)定最大回波高度兩側(cè)下降6 dB的范圍，全部寬度必須大于15mm。
L0 —— 圖1試樣中最大回波高度時(shí)的厚度； L —— 使用的最大厚度。
圖 A .1 距離—波幅特性曲線
注：圖中尺寸單位均為mm。
圖 A.2 測(cè)定儀器和探頭組合性能試樣
厚度≥6mm扁平產(chǎn)品超聲波檢驗(yàn)方法（反射法）
EN10160：1999
1 范圍
本歐洲標(biāo)準(zhǔn)描述了用超聲波檢驗(yàn)無(wú)涂層的扁平產(chǎn)品內(nèi)部不連續(xù)（缺陷）的一個(gè)方法。它適用公稱厚度范圍為6mm-200mm的非合金或者合金鋼扁平產(chǎn)品，不包括奧氏體鋼或者奧氏體—鐵素體鋼。但是，只要噪聲信號(hào)和回波探測(cè)臨界值振幅之間的差值相對(duì)于規(guī)定極限足夠大，則本標(biāo)準(zhǔn)可以適用于后面這種類型的鋼材。
本標(biāo)準(zhǔn)按照第九款規(guī)定的準(zhǔn)則，對(duì)扁平產(chǎn)品本體規(guī)定了四個(gè)質(zhì)量等級(jí)（S0，S1，S2，S3），對(duì)邊緣規(guī)定了五個(gè)質(zhì)量等級(jí)（E0，E1，E2，E3，E4）。
對(duì)其他的檢驗(yàn)方法或檢驗(yàn)設(shè)備，如果在本標(biāo)準(zhǔn)的條件下可獲得同樣結(jié)果的話，廠家也可以采用。在有沖突的情況下，僅以本標(biāo)準(zhǔn)定義的方法為準(zhǔn)。
厚度小于6mm扁平產(chǎn)品的檢驗(yàn)必須經(jīng)相關(guān)方特殊同意。
通常在生產(chǎn)地點(diǎn)進(jìn)行檢驗(yàn)，或根據(jù)供貨方的許可。如果合同規(guī)定，檢驗(yàn)可以在買方或其代表在場(chǎng)時(shí)進(jìn)行。
2 參考標(biāo)準(zhǔn)
本標(biāo)準(zhǔn)使用了由其它出版社出版的注明日期或沒(méi)有注明日期的參考標(biāo)準(zhǔn)。這些參考標(biāo)準(zhǔn)在本文適當(dāng)?shù)牡胤奖灰貌⑶伊谐隽顺霭嫔绲拿Q。對(duì)于注明日期的參考標(biāo)準(zhǔn)，本標(biāo)準(zhǔn)引用時(shí)僅使用其修補(bǔ)或修訂本。沒(méi)有注明日期的參考標(biāo)準(zhǔn)，僅使用其出版物的最新版本。
EN473，無(wú)損檢驗(yàn)人員的資格和證明-總則
PrEN1330-4，無(wú)損檢驗(yàn)-術(shù)語(yǔ)-第四部分；無(wú)損檢驗(yàn)中使用的術(shù)語(yǔ)。
3 術(shù)語(yǔ)和定義
在PrEN1330-4中給出的定義和下列定義適用：
3.1內(nèi)部不連續(xù)
在扁平產(chǎn)品厚度范圍內(nèi)的任何缺陷，如平面或?qū)訝钊毕�、單面或多面夾雜帶或群。
注：本文中指的是不連續(xù)。
3.2缺陷
不可接受的內(nèi)部不連續(xù)，即超過(guò)規(guī)定的最大尺寸或分布密度極限。
3.3分布密度
在每一規(guī)定的本體面積或每一規(guī)定邊緣區(qū)域的長(zhǎng)度內(nèi)，尺寸大于一個(gè)規(guī)定的最小尺寸和小于一個(gè)規(guī)定的最大尺寸的單個(gè)內(nèi)部不連續(xù)點(diǎn)的數(shù)量。
3.4人工和輔助人工檢驗(yàn)
有操作者使用一個(gè)或幾個(gè)超聲波探頭置于扁平產(chǎn)品表面進(jìn)行檢驗(yàn)，并且在鋼板表面進(jìn)行適當(dāng)?shù)膾呙�，通過(guò)直接觀察或通過(guò)固定的信號(hào)振幅顯示裝置，在顯示屏上目示檢查超聲波信號(hào)。
3.5自動(dòng)或半自動(dòng)檢測(cè)
采用機(jī)械的方法，使用一個(gè)或幾個(gè)超聲波探頭，在扁平產(chǎn)品表面制作適當(dāng)?shù)膾呙杈�，通過(guò)電子方式評(píng)定超聲波指示信號(hào)。這樣的檢驗(yàn)可以無(wú)需操作者參與，是完全自動(dòng)化的，或由操作者完成基本的設(shè)備操作功能，即半自動(dòng)檢驗(yàn)。
4 原理
采用的原理是超聲波信號(hào)的反射（通常是縱向的），其平均方向垂直于產(chǎn)品表面。
檢測(cè)包括：
（a） 通過(guò)比較缺陷回波的高度與缺陷同深度處給定直徑的平底孔回波的高度來(lái)確定任一缺陷位置。
（b）然后確定缺陷區(qū)域，不連續(xù)區(qū)域由探頭中心位置確定，對(duì)應(yīng)考慮缺陷回波高度為最大高度一半的缺陷（6dB方法）。
對(duì)所有厚度扁平產(chǎn)品的探測(cè)在第一超聲掃描中完成且僅從一側(cè)執(zhí)行。
5 人員
檢驗(yàn)由符合EN473要求的具有3級(jí)資格證書的人員來(lái)完成。
6 設(shè)備
6.1說(shuō)明
探測(cè)設(shè)備應(yīng)該配有一個(gè)示波器屏幕，可以跟蹤通過(guò)材料的超聲波的路徑。示波圖應(yīng)該是清晰可見的，連續(xù)回波的對(duì)應(yīng)峰值應(yīng)該是明顯和非常清晰的；設(shè)備應(yīng)適當(dāng)校準(zhǔn)過(guò)且裝有分貝標(biāo)記的放大器。
可以使用帶顯示器的超聲檢測(cè)設(shè)備和刻有dB的放大控制裝置，或無(wú)顯示器的設(shè)備。無(wú)顯示器的設(shè)備應(yīng)該能夠完成自動(dòng)振幅檢測(cè)和評(píng)定，且其測(cè)量裝置應(yīng)該是按dB校準(zhǔn)。
應(yīng)該可以調(diào)節(jié)放大率，功率和掃描基線。
設(shè)備至少包括一個(gè)探頭，它可以是一個(gè)單晶探頭，既可以發(fā)射又可以接收（單探頭），亦可是雙晶探頭（有獨(dú)立的發(fā)射——接收轉(zhuǎn)換器）。發(fā)射及接收的波的平均方向應(yīng)垂直于產(chǎn)品的表面。
探頭應(yīng)有一定的頻率及尺寸，以保證檢驗(yàn)范圍內(nèi)要求的靈敏度。
單探頭的盲區(qū)要求盡可能地小，也就是說(shuō)：盲區(qū)應(yīng)為扁平產(chǎn)品厚度的15%或15mm，取其較小者。雙晶探頭的焦點(diǎn)應(yīng)適合扁平產(chǎn)品的厚度。
探頭的主要尺寸為直徑100mm至25mm，探頭的公稱頻率為2MHz到5MHz之間。如果滿足本標(biāo)準(zhǔn)的主要要求，較大尺寸和額定頻率超出2MHz至5MHz范圍之外的探頭可用于自動(dòng)或半自動(dòng)檢驗(yàn)和或當(dāng)扁平產(chǎn)品呈現(xiàn)出高衰減時(shí)。
如表1所示，探頭類型取決于產(chǎn)品的厚度。
表1——探頭的類型
扁平產(chǎn)品的公稱厚度（e）
或任一缺陷區(qū)的深度mm |
探頭的類型 |
|
6≤e＜60 |
雙晶探頭 |
|
6≤e≤200 |
單或雙晶探頭a）b） |
a） 如有沖突，所用的探頭類型由協(xié)議規(guī)定。
b） 在用液浸法或水柱技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)檢驗(yàn)時(shí)，厚度小于60mm允許用單晶探頭。 |
探頭可以手持，亦可裝在連續(xù)檢測(cè)的設(shè)備之上，該設(shè)備的掃描速度足夠低，以便于確定缺陷位置，并考慮到屏幕顯示的滯后性，或者安裝一個(gè)缺陷顯示裝置。
當(dāng)使用雙晶探頭時(shí)，兩個(gè)晶片的隔離層的方向,應(yīng)垂直于掃描的方向。
設(shè)備的驗(yàn)證工作,應(yīng)按有關(guān)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行。
6.2設(shè)備是調(diào)節(jié)
設(shè)備投入使用前要對(duì)掃描基線、功率及放大率的特別要求進(jìn)行確定。將掃描基線調(diào)整到一個(gè)值，此值使得示波器屏幕上,發(fā)射回波與底面回波之間的距離,足以清晰地顯示出允許缺陷回波。
至少應(yīng)顯示兩個(gè)底面回波。
功率與放大率的調(diào)節(jié),應(yīng)在無(wú)任何缺陷回波的完好區(qū)域上,同是4進(jìn)行。第一次底面回波,可調(diào)至設(shè)備線性區(qū)域與屏幕高度相適應(yīng)的最大波高（一般來(lái)說(shuō)，在全屏幕高度的80%至100%之間）。
至少每隔8小時(shí)，應(yīng)校正一次設(shè)備。
7 耦合條件——扁平產(chǎn)品的表面狀態(tài)
耦合介質(zhì)，應(yīng)保證探頭與扁平產(chǎn)品表面之間有充分的接觸，通常用水作介質(zhì)，但供方可決定用其他耦合介質(zhì)（如：油、糊狀物）。
表面狀態(tài)，應(yīng)允許當(dāng)探頭放在無(wú)內(nèi)部缺陷的任何區(qū)域上時(shí)，可區(qū)分出至少兩次連續(xù)的底面回波；扁平產(chǎn)品，通常不需作任何特殊的表面處理，便可進(jìn)行檢測(cè)。
8 掃描方法
8.1總則對(duì)扁平產(chǎn)品本體來(lái)說(shuō)，檢測(cè)是基于統(tǒng)計(jì)方法，除非訂單中另有說(shuō)明。按照質(zhì)量等級(jí)，扁平產(chǎn)品的掃描按8.2或和8.3執(zhí)行。在訂貨時(shí)經(jīng)商定，可以提供特定區(qū)域或扁平產(chǎn)品本體的掃描，操作條件也應(yīng)包含在協(xié)議中。
8.2扁平產(chǎn)品本體檢驗(yàn)
8.2.1 S0及S1級(jí)的扁平產(chǎn)品
掃描包括，沿平行于扁平產(chǎn)品的邊緣200mm見方格子線進(jìn)行的連續(xù)檢驗(yàn)，或沿表面上均勻分布的平行線（或振動(dòng)線），給出相同的控制程度。
8.2.2 S2及S3級(jí)的扁平產(chǎn)品
掃描包括，沿平行于扁平產(chǎn)品的邊緣100mm見方格子線進(jìn)行的連續(xù)檢驗(yàn)，或沿表面上均勻分布的平行線（或振動(dòng)線），給出相同的控制程度。
8.3鋼板邊緣的檢驗(yàn)
掃描包括表2對(duì)沿扁平產(chǎn)品四周邊緣的區(qū)域的全部檢測(cè)
表2扁平產(chǎn)品邊緣區(qū)域的寬度
|
扁平產(chǎn)品的厚度e，mm |
區(qū)域?qū)挾萴m |
6≤e＜50
50≤e＜100
100≤e≤200 |
50
75
100 |
9 步驟
9.1靈敏度和設(shè)置范圍
對(duì)每一種型號(hào)的探頭，應(yīng)給出使用的曲線：
a） 底面回波高度變化隨扁平產(chǎn)品厚度變化的曲線；
b） 平底孔回波高度隨其深度、孔直徑變化的曲線；
——11mm孔適用于S0，S1，E0和E1級(jí)；
——8mm孔適用于S2，E2和E3級(jí)；
——5mm孔適用于S3和E4級(jí)；
孔的底部要盡可能平整，平行于超聲波入射面并且無(wú)顯著降低其超聲波反射能力的凹坑或劃痕標(biāo)志。平底孔的直徑和凹口寬度允許偏差為+5%。只要使用同樣的設(shè)備/傳感器類型組合，選定凹口的長(zhǎng)度和寬度提供一個(gè)基本上等同與從規(guī)定平底孔得到的超聲波信號(hào)反射，允許使用矩形槽。
當(dāng)采用雙晶探頭檢驗(yàn)時(shí)，對(duì)于所有質(zhì)量等級(jí)，只用5mm直徑孔，因?yàn)橄鄳?yīng)于8mm和11mm直徑孔的特性曲線與底面回波曲線相互干擾、難以分清。
應(yīng)采用試塊確定這些曲線（分度試塊測(cè)定底面回波高度變化的曲線；具有不同深度的平底孔的試塊用于 測(cè)定直徑為11mm、8mm和5mm的特性曲線）。試塊由組織均勻的碳鋼組成，每一條曲線至少應(yīng)在探頭使用范圍內(nèi)取5點(diǎn)確定。探頭生產(chǎn)廠可提供所有這些曲線。
這樣，對(duì)于給定厚度的扁平產(chǎn)品，此方法為：將底面回波高度調(diào)整到底面回波高度變化曲線上的某一值，并根據(jù)選定級(jí)別 ，將缺陷的回波高度與回波特性曲線（指11mm，8mm和5mm直徑孔）相比較。僅當(dāng)缺陷的回波高度大于特性曲線的高度時(shí)，才將記為缺陷。
9.2不連續(xù)（ 缺陷）面積確定
9.2.1扁平產(chǎn)品本體檢驗(yàn)
9.2.1.1用雙晶探頭檢驗(yàn)
所有超出特性曲線的不連續(xù)（ 缺陷）區(qū)應(yīng)使用6dB法來(lái)確定，也就是不連續(xù)（ 缺陷）范圍由不連續(xù)（ 缺陷）的反射高度等于底波最大高度一半時(shí)的探頭中心位置確定。接著，確定包含整個(gè)不連續(xù)（ 缺陷）的矩形，主要尺寸是不連續(xù)（ 缺陷）的寬度。這樣矩形的面積就可以計(jì)算出來(lái)了。
矩形的面積定義為不連續(xù)（缺陷）的面積S。如果兩個(gè)相鄰的不連續(xù)（缺陷）之間的距離小于或等于兩者間較小的長(zhǎng)度時(shí)，這兩個(gè)不連續(xù)（缺陷）應(yīng)考慮為一個(gè)不連續(xù)（缺陷），其面積為兩個(gè)不連續(xù)（缺陷）面積的總和。
9.2.1.2單探頭檢驗(yàn)
檢驗(yàn)包括：
a） S0和S1級(jí)的扁平產(chǎn)品：依照8.2.1中定義的方法確定面積。
b） S2和S3級(jí)的扁平產(chǎn)品：當(dāng)使用5mm，8mm和11mm直徑孔的特性曲線進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，簡(jiǎn)單計(jì)算不連續(xù)（缺陷）個(gè)數(shù)。
確定方法如下：
——對(duì)于S2級(jí)：確定出回波的高度大于11mm直徑特性曲線的不連續(xù)（缺陷）數(shù)量以及回波高度在8mm和11mm直徑孔特性曲線之間的不連續(xù)（缺陷）數(shù)量N2（表4）；
——對(duì)于S3級(jí)：確定出回波的高度大于8mm直徑特性曲線的不連續(xù)（缺陷）數(shù)量以及回波高度在5mm和8mm直徑孔特性曲線之間的不連續(xù)（缺陷）數(shù)量N3（表4）。
9.2.2邊緣檢驗(yàn)
檢驗(yàn)包括與扁平產(chǎn)品本體（9.2.1）同樣條件下，在8.3中所確定的不連續(xù)（缺陷）四周邊緣（或按照簡(jiǎn)圖焊接區(qū)域）的整個(gè)表面進(jìn)行掃查。
確定方法如下：
——平行于扁平產(chǎn)品邊緣方向的不連續(xù)（缺陷）最大尺寸L
max和最小尺寸L
min；
——不連續(xù)（缺陷）的面積（S）；
——每1米長(zhǎng)度內(nèi)小于最小面積（L
max）、大于最小尺寸L
min的不連續(xù)（缺陷）數(shù)量。
用6dB方法確定不連續(xù)（缺陷）的性質(zhì)。
10 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
表3和表4按照探頭使用類型，給出了扁平產(chǎn)品本體4個(gè)質(zhì)量等級(jí)的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)（S0，S1，S2，S3），表5給出了5個(gè)邊緣等級(jí)（E0，E1，E2，E3，E4）（參看圖1）。
依照訂貨協(xié)議，可以供應(yīng)與本體和/或四周邊緣具有不同的質(zhì)量等級(jí)的扁平產(chǎn)品。
11 檢驗(yàn)報(bào)告
當(dāng)要求時(shí)，生產(chǎn)廠應(yīng)提交的檢驗(yàn)報(bào)告應(yīng)至少包括以下幾點(diǎn)：
a） 參照的當(dāng)前歐洲標(biāo)準(zhǔn)
b） 被檢驗(yàn)扁平產(chǎn)品的參考數(shù)據(jù)（鋼級(jí)，熱處理狀態(tài)，表面狀態(tài)，尺寸）；
c） 超聲波探頭（類型，尺寸，頻率）和設(shè)備的特性；
d） 操作條件（耦合介質(zhì)，掃描，采用的面積確定方法，設(shè)備的調(diào)節(jié)）；
e） 檢驗(yàn)結(jié)果；
f） 特殊協(xié)議中所提的特殊點(diǎn)；
g） 檢驗(yàn)報(bào)告日期。
表3 用雙晶探頭檢驗(yàn)厚度，<60mm的扁平產(chǎn)品本體的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
等
級(jí) |
不可接受的單個(gè)
不連續(xù)（缺陷）
mm² |
可接受的群集不連續(xù)（缺陷） |
|
|
考慮的面積ａ
mm² |
不允許超過(guò)的最大密度 |
S0
|
S﹥5000 |
1000＜S≤5000 |
在最密集出的1m×1m見方的
區(qū)域內(nèi)：20 |
|
S1 |
S﹥1000 |
100＜S≤1000 |
在最密集出的1m×1m見方的
區(qū)域內(nèi)：15 |
|
S2 |
S﹥100 |
5＜S≤100 |
在最密集出的1m×1m見方的
區(qū)域內(nèi)：10 |
|
S3 |
S﹥50 |
20＜S≤50 |
在最密集出的1m×1m見方的
區(qū)域內(nèi)：10 |
a） 上述群集（參看9.2）中每一個(gè)缺陷面積。
注意：對(duì)于缺陷尺寸，如果使用的方法是不用于6dB法的其它合適的方法，那么厚度≥60mm時(shí)此表亦可使用。
表4 用直探頭檢驗(yàn)扁平產(chǎn)品本體的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
|
等級(jí) |
不可接受的單個(gè)
不連續(xù)（缺陷） |
可接受的群集不連續(xù)（缺陷） |
考慮的尺寸ａ
（數(shù)值） |
不允許超過(guò)的最大數(shù)量 |
|
S0 |
S﹥5000 mm² |
1000＜S≤5000mm² |
在最密集出的1m×1m見方的區(qū)域內(nèi)：20 |
|
S1 |
S﹥1000 mm² |
100＜S≤1000 |
在最密集出的1m×1m見方的區(qū)域內(nèi)：15 |
|
S2 |
波高大于Φ11mm平底孔特性曲線的不連續(xù)（缺陷） |
N2
（Φ8mm-Φ11mm之間） |
在最密集出的1m×1m見方的區(qū)域內(nèi)：10 |
|
S3 |
波高大于Φ8mm孔特性曲線的不連續(xù)（缺陷） |
N3
（Φ5mm-Φ8mm之間） |
在最密集出的1m×1m見方的區(qū)域內(nèi)：10 |
a） 上述群集區(qū)每一個(gè)缺陷的尺寸（參看9.2）。
表5 檢驗(yàn)扁平產(chǎn)品邊緣的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
|
|
允許的單個(gè)不連續(xù)
（缺陷）尺寸 |
考慮的最小不連續(xù)
（缺陷）尺寸 |
每一米長(zhǎng)度內(nèi)小于最大面積Smax且大于Lmin的不連續(xù)允許（缺陷）數(shù) |
等
級(jí) |
最大尺寸
Lmax
mm |
最大面積
Smax
mm² |
Lmin
mm |
|
E0 |
100 |
2000 |
50 |
6 |
|
E1 |
50 |
1000 |
25 |
5 |
|
E2 |
40 |
500 |
20 |
4 |
|
E3 |
30 |
100 |
15 |
3 |
|
E4 |
20 |
50 |
10 |
2 |
注：對(duì)于厚度≥60mm的產(chǎn)品，用11mm，8mm，5mm的平底孔特性曲線來(lái)計(jì)算缺陷數(shù)量。
——E3 缺陷回波高度在直徑為8mm和11mm的平底孔特性曲線之間的缺陷數(shù)量：3
——E4 缺陷回波高度在直徑為5mm和8mm的平底孔特性曲線之間的曲線數(shù)量：2
德國(guó)超聲波檢驗(yàn)厚鋼板的技術(shù)交付條件
SEL072—77
1 適用范圍：
這些交付條件適用于厚鋼板，該厚鋼板是采用超聲波檢驗(yàn)其內(nèi)部缺陷的，例如分層和粗大夾雜。
2 概念：
根據(jù)這些交付條件進(jìn)行的超聲波檢驗(yàn)適用于厚鋼板，由制造廠在規(guī)定范圍內(nèi)（見第4節(jié)）進(jìn)行的超聲波檢驗(yàn)（見第5節(jié)）能真正做到厚板中無(wú)缺陷。為此，將超聲波檢驗(yàn)分為超聲波平面檢驗(yàn)、邊緣檢驗(yàn)和全面檢驗(yàn)。
3 分類：
3．1 根據(jù)此供貨條件進(jìn)行超聲波檢驗(yàn)的厚鋼板的分類標(biāo)準(zhǔn)見表1和表2，并與檢驗(yàn)方法無(wú)關(guān)，表1的分類適用于平面檢驗(yàn)。表2的分類適用于邊緣檢驗(yàn)。
3．2 根據(jù)表1或表2選擇等級(jí)是用戶所關(guān)心的。所以，在要考慮的說(shuō)明或技術(shù)規(guī)程內(nèi)的規(guī)定應(yīng)該遵守（對(duì)此可看4.2.1和4.3.1節(jié)），在訂貨時(shí)必須規(guī)定，這些交付條件必須遵守附帶的有關(guān)鋼種的質(zhì)量規(guī)范，同時(shí)必須確定厚板空間應(yīng)該提供哪一類檢驗(yàn)；
根據(jù)表1中的等級(jí)之一的超聲波平面檢驗(yàn)（見4.2）節(jié)；
或者根據(jù)表2中等級(jí)之一的超聲波邊緣檢驗(yàn)（見4.3節(jié)）；
或者根據(jù)表1和表2中等級(jí)之一的超聲波全面檢驗(yàn)（見4.4節(jié)）。
如果在訂貨時(shí)并未明確規(guī)定采用那一類等級(jí)的話，一般可采用3級(jí)作為協(xié)定的等級(jí)。
4 要求：
4．1遵照表3的規(guī)定，厚板超聲波檢驗(yàn)的要求必須指明厚板空間是作超聲波平面檢驗(yàn)、超聲波邊緣檢驗(yàn)還是全面檢驗(yàn)（見3．2節(jié)）。
4．1．1平面檢驗(yàn)是在鋼板表面進(jìn)行檢驗(yàn)。不需特別考慮邊緣區(qū)域。
4．1．2邊緣檢驗(yàn)僅檢驗(yàn)各邊緣。
4．1．3全面檢驗(yàn)包括在鋼板上表面的檢驗(yàn)和邊緣的檢驗(yàn)。
4．2對(duì)于進(jìn)行超聲波平面檢驗(yàn)的厚板必須按協(xié)定的等級(jí)滿足表1中規(guī)定的要求。
4．2．1對(duì)供方來(lái)說(shuō)，表1中的每一類交付條件都可達(dá)成協(xié)議。在一般情況下，特別的適合于應(yīng)用的交付條件是不必要的。但必須規(guī)定，按交付條件進(jìn)行超聲波平面檢驗(yàn)的厚鋼板應(yīng)滿足表1中的3級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。
4．3對(duì)于進(jìn)行超聲波邊緣檢驗(yàn)的厚板必須按協(xié)定的等級(jí)滿足表2規(guī)定的要求。
4．3．1對(duì)供方來(lái)說(shuō)可按表2中的每一類交付條件達(dá)成協(xié)議。在一般情況下，特別的適合于應(yīng)用的交付條件是不必要的。但必須規(guī)定，按交付條件進(jìn)行超聲波邊緣檢驗(yàn)的厚鋼板應(yīng)滿足表2中的3級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。
4．4對(duì)于進(jìn)行全面超聲波檢驗(yàn)的厚板。必須按協(xié)定的等級(jí)滿足在表1和表2中相同等級(jí)規(guī)定的要求，對(duì)于按表1中5級(jí)和6級(jí)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行全面超聲波檢驗(yàn)的厚板而言，在作邊緣檢驗(yàn)時(shí)必須履行表2中的4級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。
4．4．1對(duì)供方來(lái)說(shuō)可按表1和相應(yīng)的表2中的每一類交付條件達(dá)成協(xié)議，在一般情況下，特別的適合于應(yīng)用的交付條件是不必要的。但必須規(guī)定，進(jìn)行全面超聲波檢驗(yàn)的厚鋼板必須按本供貨條件滿足表1和表2中的3級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。
4．5對(duì)平面和邊緣有不同要求時(shí)，等級(jí)必須分別按4．2節(jié)和4．3節(jié)達(dá)成協(xié)議。
5、檢驗(yàn)：
5．1每一塊厚板（或板坯）的檢驗(yàn)由于某種原因制造廠在一個(gè)合適的區(qū)域內(nèi)進(jìn)行。為此，超聲波檢驗(yàn)方法和檢驗(yàn)條件的選擇均由制造廠決定。制造廠還必須決定在哪一種熱處理?xiàng)l件下檢驗(yàn)，到目前為止在技術(shù)規(guī)程上（如AD說(shuō)明書）尚未采取另外的規(guī)定。
注：①應(yīng)該準(zhǔn)備有關(guān)厚鋼板超聲波手工檢驗(yàn)的歐洲標(biāo)準(zhǔn)。
在訂貨時(shí)，必須就檢驗(yàn)區(qū)域達(dá)成協(xié)議，同時(shí)，要求的等級(jí)必須通過(guò)計(jì)算選定，在一般情況下，平面檢驗(yàn)可按邊長(zhǎng)為20cm的格子或按一個(gè)筆直的相互平行間距為10cm的梳狀檢驗(yàn)線進(jìn)行，或按一組正弦狀檢驗(yàn)線進(jìn)行檢驗(yàn),這些正弦曲線的的振幅和振蕩半周長(zhǎng)均為20cm，在作邊緣檢驗(yàn)時(shí)，距切口的寬度等于被檢鋼板的厚度，但至少為2.5cm。
5．2訂貨時(shí)，必須就在制造廠檢驗(yàn)時(shí)用戶或他的代理人是否到場(chǎng)達(dá)成協(xié)議，同時(shí)必須就保證生產(chǎn)過(guò)程中不受妨礙的檢驗(yàn)措施達(dá)成協(xié)議。
5．3在有爭(zhēng)議的情況下，可以按補(bǔ)充說(shuō)明里的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行檢驗(yàn)，當(dāng)制造廠和用戶或他們代理人之間就評(píng)價(jià)已經(jīng)確認(rèn)的缺陷尺寸和或個(gè)數(shù)上存在分歧時(shí)，只能根據(jù)本供貨條件的內(nèi)容給以仲裁。
6 索賠：
6．1只有當(dāng)缺陷超過(guò)了訂貨時(shí)規(guī)定等級(jí)所允許的尺寸和/或個(gè)數(shù)，并且鋼板的適用性受到某些損害時(shí)，可就缺陷要求索賠。
6．2用戶應(yīng)給制造廠以機(jī)會(huì)，通過(guò)索賠樣品和供給鋼板例證所提供的索賠理由，讓制造廠自己承認(rèn)索賠數(shù)。
表1 根據(jù)交付條件進(jìn)行厚鋼板超聲波平面檢驗(yàn)的等級(jí)分類
等級(jí) |
最小的必須考慮的
缺陷面積cm |
最大的允許缺陷
面積cm |
缺陷的允許個(gè)數(shù)① |
指鋼板的局部區(qū)域②
每m |
指整張鋼板每
m |
|
0 |
0.5 |
取消 |
0 |
0 |
|
1 |
0.5 |
1 |
≤4 |
≤2 |
|
2 |
0.5 |
1 |
≤30 |
≤15 |
|
3 |
1 |
10 |
≤10 |
≤5 |
|
4 |
1 |
10 |
≤50 |
≤30 |
|
5 |
10 |
100 |
≤1 |
≤1每2m |
|
6 |
10 |
100 |
≤5 |
≤3每2m |
注：①當(dāng)面積為1cm²至10 cm²(參看1級(jí)至4級(jí))的相互靠近的缺陷的邊緣距離小于的缺陷的最大延伸長(zhǎng)度時(shí)，這些缺陷必須看作一個(gè)缺陷，但這只適用于兩個(gè)缺陷的評(píng)價(jià)。當(dāng)兩個(gè)以上的缺陷緊靠在一起時(shí)，每次必須逐對(duì)進(jìn)行比較；②每平方米的數(shù)據(jù)是指1米×1米和面積；③0級(jí)只適用于特別協(xié)議。例如某些特定表面區(qū)域。
表2 按照交付條件進(jìn)行厚鋼板超聲波邊緣檢驗(yàn)的等級(jí)分類
|
等級(jí) |
最小的必須考慮
的缺陷的面積cm² |
最大的允許
缺陷面積cm² |
必須考慮的平行于
切口的缺陷的最大
允許長(zhǎng)度cm |
缺陷的允許個(gè)數(shù)①
每m² |
|
0② |
0.5 |
取消 |
取消 |
0 |
|
1 |
0.5 |
1 |
4 |
≤2 |
|
2 |
0.5 |
1 |
4 |
≤5 |
|
3 |
1 |
10 |
4 |
≤3 |
|
4 |
1 |
10 |
4 |
≤5 |
注：①當(dāng)面積為1cm²至10 cm²(參看1級(jí)至4級(jí))的相互靠近的缺陷的邊緣距離小于缺陷的最大延伸長(zhǎng)度時(shí)，這些缺陷必須看作一個(gè)缺陷，但這只適用于兩個(gè)缺陷的評(píng)價(jià)。當(dāng)兩個(gè)以上的缺陷緊靠在一起時(shí)，每次必須逐對(duì)進(jìn)行比較；②
0級(jí)只適用于特別協(xié)議。例如某些特定邊緣區(qū)域。
表3 對(duì)厚鋼板的超聲波平面檢驗(yàn)，邊緣檢驗(yàn)和全面檢驗(yàn)要求的等級(jí)
|
檢驗(yàn)的種類 |
要求檢驗(yàn) |
必須滿足的要求 |
|
按其一等級(jí)進(jìn)行超聲波檢驗(yàn) |
在一般情況下超聲波檢驗(yàn)的等級(jí) |
超聲波平面
檢驗(yàn) |
平面 |
按表1中某一等級(jí) |
按表1中3級(jí) |
超聲波邊緣
檢驗(yàn) |
邊緣 |
按表2中某一等級(jí) |
按表2中3級(jí) |
超聲波全面
檢驗(yàn) |
平面
邊緣 |
按表1中某一等級(jí)
和按表2中相同等級(jí)① |
按表1中3級(jí)
按表2中3級(jí) |
注：①如果采用表1中的5級(jí)和6級(jí)，鋼板邊緣檢驗(yàn)必須滿足表2中的4級(jí)供貨條件。
超聲波檢驗(yàn)厚鋼板的技術(shù)交付條件
----在超聲波檢驗(yàn)發(fā)生爭(zhēng)議時(shí)執(zhí)行
(鋼鐵交付條件072-77的附件)
1 適用范圍：
在有爭(zhēng)議的情況下，本章適用于根據(jù)鋼鐵交付條件072進(jìn)行的厚鋼板超聲波手工檢驗(yàn)。即在某種情況下，一旦制造廠和用戶或他們的代理人之間，在評(píng)價(jià)已查明的缺陷面積和個(gè)數(shù)上產(chǎn)生了分歧，在這種情況下，必須規(guī)定檢驗(yàn)過(guò)程的各項(xiàng)細(xì)節(jié)，通過(guò)這樣的檢驗(yàn)，可以被查明有爭(zhēng)議的缺陷面積和個(gè)數(shù)。
2 檢驗(yàn)方法：
2．1在任何情況下可以使用脈沖反射法。
為了測(cè)定缺陷的面積，應(yīng)該盡可能應(yīng)用半波高度測(cè)定法。在這里，置于缺陷上的探頭在各個(gè)不同的方向往復(fù)移動(dòng)，以便確定缺陷邊緣位置，在這些位置上中間回波的高度等于當(dāng)時(shí)最高值的一半，邊緣各點(diǎn)的連接線形成了要測(cè)定缺陷表面的界線（詳情見5.1節(jié)）。
當(dāng)小缺陷處于較大深度時(shí)，這種方法會(huì)不精確，在這種情況下，必須按照距離-增益-面積（AVG）曲線圖確定缺陷的當(dāng)量面積（詳情見5.2節(jié)）。
2．2因此，可以根據(jù)檢驗(yàn)任務(wù)應(yīng)用下面的檢驗(yàn)方法：
A 按照中間回波的半高測(cè)定方法確定缺陷面積；
B 采用適合使用探頭的距離-增益-面積（AVG）曲線網(wǎng)來(lái)確定缺陷的當(dāng)量面積。
3 對(duì)受檢鋼板上表面的要求
受檢鋼板的上表面必須處于這樣的狀態(tài)以便保證進(jìn)行的檢驗(yàn)是無(wú)可非議的，在一般情況下，交貨狀態(tài)下的軋制鋼板的光滑上表面是足夠的。
4 對(duì)檢驗(yàn)設(shè)備的要求
4．1檢驗(yàn)調(diào)整
檢驗(yàn)時(shí)必須調(diào)整到這樣的狀態(tài)，保證探頭垂直接通；探頭的運(yùn)行可以選擇手動(dòng)的方式或機(jī)械傳動(dòng)的方式。
4．2探傷儀
可以使用下面的超聲波探傷儀：
4．2．1儀器具有螢光屏顯示圖和用分貝（dB）刻度的增益調(diào)節(jié)器。
具有螢光顯示圖和用分貝（dB）刻度的增益調(diào)節(jié)器的探傷儀的靈敏度必須這樣調(diào)整：使要評(píng)價(jià)的反射波的高度保持在螢光屏幕圖可利用高度的20%-80%之間。
4．2．2不帶螢光屏顯示圖的檢驗(yàn)系統(tǒng)能自動(dòng)進(jìn)行脈沖高度的測(cè)量和評(píng)價(jià)，在這種情況下，測(cè)量單位必須用分貝（dB）調(diào)整。
4．3探頭
選擇探頭按表1進(jìn)行。
4．3．1當(dāng)采用檢驗(yàn)方法A時(shí)（見2.2節(jié)），僅能使用帶有分割式發(fā)射和接收振蕩器的探頭（SE）。
4．3．2當(dāng)小缺陷處于較深距離并采用標(biāo)準(zhǔn)探頭（即直探頭）時(shí)，可應(yīng)用檢驗(yàn)方法B（見2.2節(jié)）。
5 檢驗(yàn)的進(jìn)行
首先是測(cè)定缺陷的位置并確定探頭對(duì)缺陷的距離（5mm當(dāng)量缺陷面積的評(píng)價(jià)界線）。
為了測(cè)量已檢出的缺陷面積，要依賴與表1中相應(yīng)的缺陷距離來(lái)選擇探頭和方法。
5．1當(dāng)使用檢驗(yàn)方法A時(shí)（見2.2節(jié)），探頭移動(dòng)到有疑問(wèn)的部位上，并確定半值寬，這時(shí)可確定對(duì)應(yīng)的兩點(diǎn)，在這兩點(diǎn)上中間回波的高度為完好部位高度的0.5倍（即6 dB半益差）。這兩點(diǎn)的確定決定了探頭的中心，這兩點(diǎn)被認(rèn)為是缺陷相對(duì)的兩個(gè)邊緣點(diǎn)。每次將探頭移到另外的方向上，按相應(yīng)的方式可得到缺陷其它的邊緣點(diǎn)。借助于波束截面的面積及其形狀，能確定要測(cè)定的缺陷面積的最小值，在用SE探頭時(shí)，輪廓是橢圓形的，并隨距離面發(fā)生變化，密切協(xié)作 里，就距離范圍而言。最有利的掃描方向由表1中注1規(guī)定。
5．2當(dāng)采用B法時(shí)（見2.2節(jié)），可調(diào)節(jié)增益的分貝（dB）來(lái)測(cè)定有疑問(wèn)的部位。必須將涉及的缺陷的第一次反射波調(diào)整到完好部位珠（即穩(wěn)定）第一次底波的高度，借助于增益值的變化量△V。
B，可以從距離-增益-面積（AVG）曲線圖（圖1）查出當(dāng)量缺陷的直徑（一種完整的反射體，例如平底孔反射體），這個(gè)當(dāng)量缺陷的直徑如同有疑問(wèn)的缺陷。為此，如圖1所示的例子，將底波曲線上厚度為板厚（例如140mm）的X點(diǎn)向下移動(dòng)一個(gè)增益值△V（例如14 dB）。這樣可延長(zhǎng)到y(tǒng)點(diǎn)作一條平行于橫坐標(biāo)的直線，這條直線與通過(guò)等于缺陷距離深度（例如為75mm）的平行于縱座標(biāo)的直線在E點(diǎn)處垂直對(duì)穿，在曲線族中與圖中E點(diǎn)離得最近的那條曲線已補(bǔ)繪了人工當(dāng)量缺陷面積（例如直徑為5mm）。當(dāng)量面積和真實(shí)缺陷面積相等。圖1描述的AVG曲線圖僅適用于頻率為2MHZ有效振蕩器（晶片）、直徑為24 mm的標(biāo)準(zhǔn)探頭（即直探頭）。
表1 缺陷距離、探頭和檢驗(yàn)方法之間的關(guān)系
|
缺陷距離（mm） |
探頭型號(hào)① |
檢驗(yàn)方法② |
|
≤20 |
SE5º |
A |
|
20-60 |
SE0º |
A |
|
＞60③ |
N缺陷當(dāng)量直徑≤11 mm，B |
|
SE0缺陷當(dāng)量直徑＞11 mm，A |
注：①SE5=SE探頭（即TR探頭），頻率為4MHZ，雙斜角度約為5 º，焦距約為12 mm，振蕩器直徑為9-20 mm。當(dāng)振蕩器直徑≤10 mm時(shí)，則探頭探查方向垂直于隔聲層；SE0=SE探頭，頻率為4MHZ，雙斜角度約為0º，焦距約為25-40 mm，振蕩器直徑為18-20 mm。探查方向平行于隔聲層。N=直探頭（即標(biāo)準(zhǔn)探頭），頻率為2MHZ，振蕩器直徑為24mm.②見2節(jié)。③當(dāng)缺陷距離上表面的距離超過(guò)60 mm時(shí)，首先必須采用檢驗(yàn)方法B，當(dāng)按這個(gè)方法（B）探查的缺陷面積超過(guò)直徑為11 mm的當(dāng)量缺陷時(shí)，必須采用檢驗(yàn)方法A并使用SE0探頭。
鋼板超聲直射波檢驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范
ASTM A435/A435M-90
1
適用范圍
1.1 本規(guī)范包括厚度大于或等于1/2英寸（12.5mm）軋制全鎮(zhèn)靜碳鋼和合金鋼板進(jìn)行直射聲束，脈沖回波法的超聲檢測(cè)規(guī)程和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。制定本標(biāo)準(zhǔn)是為了保證交付的鋼板示帶有嚴(yán)重的內(nèi)部不連續(xù)性，諸如縮孔、斷裂或分層。每當(dāng)征詢、合同、訂貨單或規(guī)范指明要對(duì)板材進(jìn)行超聲檢測(cè)時(shí)，均應(yīng)使用本標(biāo)準(zhǔn)。
1．2 按照本規(guī)范規(guī)定進(jìn)行檢測(cè)的人員應(yīng)具備ASNT SNT-TC-1A最新版本或被接受的對(duì)等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的資格和證書。對(duì)等標(biāo)準(zhǔn)即為包括超聲波無(wú)損檢測(cè)人員資格和認(rèn)證方面內(nèi)容并為需方接受的標(biāo)準(zhǔn)。
1．3 無(wú)論用英制單位還是用國(guó)際單位制表示的數(shù)值，均可單獨(dú)作為標(biāo)準(zhǔn)值。正文括號(hào)中的值為國(guó)際單位制值。用兩種不同單位制表示的值并不完全等值，因此，只能采用其中一種單位制的值，兩種單位制并用會(huì)產(chǎn)生不符合本規(guī)范的結(jié)果。
2
參考文件
2．1 標(biāo)準(zhǔn)：SNT-TC-1A
3
儀器
3．1 制造廠應(yīng)為檢測(cè)配置適當(dāng)?shù)某晝x器和必要的有資格的操作人員。所配設(shè)備應(yīng)是脈沖回波直射聲束型儀器。換能器一般是直徑為1-1 英寸(25-30mm)圓晶片，或邊長(zhǎng)1英寸(25mm)的方晶片。當(dāng)然，可以使用有效面積至少為0.7平方英寸(450mm²)的任何換能器。檢測(cè)應(yīng)用下列其中一個(gè)方法；直接接觸法、浸入法或液體耦合法。
3．2 在評(píng)估和精確測(cè)定缺陷顯示時(shí)允許使用其它探頭。
4
檢測(cè)條件
4．1 檢測(cè)應(yīng)在不影響設(shè)備正常工作的場(chǎng)所進(jìn)行。
4．2 使板表面清潔平滑到掃查時(shí)足以使背面回波至少保持滿刻度高度的50%。
4．3 由本方法檢測(cè)的鋼板，表面應(yīng)去除殘留的機(jī)油或鐵銹。為了達(dá)到適當(dāng)平滑度而磨掉的任何規(guī)定的標(biāo)記在檢測(cè)后應(yīng)予以恢復(fù)。
5
檢測(cè)方法
5．1 超聲檢測(cè)應(yīng)在板的任一主平面上進(jìn)行。近表面的驗(yàn)收缺陷可要求從另一平面檢測(cè)，訂購(gòu)的淬火加回火板應(yīng)在熱處理后進(jìn)行檢測(cè)。
5．2 推薦的額定檢測(cè)頻率為2 MHz，因材料的厚度、晶粒度、或金相組織以及采用的儀器或方法變更可能要求更高或更低的檢測(cè)頻率。但只有同用戶達(dá)成一致意見，才允許使用低于1MHz的頻率。在檢測(cè)時(shí)，應(yīng)能得到一個(gè)清晰，易于解釋的示跡波形。
5．3 檢測(cè)時(shí)，儀器工作在一個(gè)檢測(cè)頻率上，使儀器調(diào)整到能在板的一個(gè)完好區(qū)獲得的背面參考回波為（最小值）50%到（最大值）75%滿刻度高，校準(zhǔn)儀器時(shí)，將探頭沿板表面掃查，掃查距離至少1T或6英寸(150mm)，兩者中選較大的一個(gè)值，記下背面回波位置。若檢驗(yàn)時(shí)的背面回波位置同校準(zhǔn)的有變化，應(yīng)重新校準(zhǔn)儀器。
5．4 應(yīng)連續(xù)沿著相互垂直的格子線中心掃查，格子線間距為9英寸(225mm)或根據(jù)制造廠的選擇，應(yīng)連續(xù)地沿垂直于板的主壓延方向的平行線進(jìn)行掃查，掃查線間距為4英寸(100mm)，或應(yīng)連續(xù)沿平行于板主壓延方向的平等線進(jìn)行掃查，掃查間距為3英寸(75mm)或更小。應(yīng)使用適當(dāng)?shù)鸟詈蟿�，如水、乳化油、甘油等�?br />
5．5 掃查線應(yīng)從板的中心或一個(gè)角上測(cè)量起，對(duì)板邊沿寬度為2英寸(50mm)的帶狀區(qū)應(yīng)作附加掃查。
5．6 采用沿格子線掃查的方式，在沿某一格子線掃查時(shí)，若出現(xiàn)背面回波完全消失并伴隨有連續(xù)的不連續(xù)信號(hào)顯示時(shí)，與有不連續(xù)信號(hào)顯示處相鄰方格的全部區(qū)域均應(yīng)被連續(xù)掃查。采用沿平行線掃查的方式，若出現(xiàn)背面回波完全消失，并伴隨有連續(xù)的不連續(xù)信號(hào)顯示時(shí)，則以該處為中心的整個(gè)9×9英寸(225×225mm)方形區(qū)域均應(yīng)連續(xù)掃查。存在這種狀態(tài)區(qū)域的實(shí)際邊界無(wú)論采用何種方式掃查，均應(yīng)由下述技術(shù)予以確定，即將探頭移離不連續(xù)的中心處，直到背面回波與不連續(xù)回波等高時(shí)，在該處標(biāo)上標(biāo)記重復(fù)上述操作直到確定整個(gè)邊界。
6 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
6．1 任何引起背面反射完全消失的不連續(xù)信號(hào)區(qū)域，只要它不能被一個(gè)直徑為3英寸(75mm)或半板厚（取其大者）的圓包容，則按拒收處理。
6．2 制造廠有權(quán)就超聲檢測(cè)后對(duì)拒收的板在超聲顯示的缺陷進(jìn)行修補(bǔ)問(wèn)題上同用戶進(jìn)行討論。
6．3 用戶可派代表赴現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。
7 標(biāo)記
7．1 應(yīng)對(duì)符合本規(guī)范要求而予以驗(yàn)收的板材采用鋼印或模板印刷方式，在材料規(guī)范要求的標(biāo)記附近標(biāo)上“UT435” 字樣。
補(bǔ)充要求
訂貨單上另有規(guī)定時(shí)才可應(yīng)用下列要求：
S1、在用戶與制造廠達(dá)成一致意見時(shí)，以本條款來(lái)代替5.4和5.5條規(guī)定的掃查方法。應(yīng)對(duì)板的一個(gè)主平面進(jìn)行100%的掃查。掃查應(yīng)沿平行或橫越鋼板軋制方向的平行線進(jìn)行，每次掃查之間要有不低于10%的復(fù)查。
特殊用途的普通鋼板與復(fù)合鋼板超聲直射波檢驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
ASTM A578/578M---96
1 適用范圍
1.1 本規(guī)程包括用脈沖反射式超聲直射波檢驗(yàn)的檢驗(yàn)規(guī)程和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)，適用于特殊用途的厚度等于或大于3/8in（10mm）軋制的普通碳鋼和合金鋼鋼板以及復(fù)合鋼板。本方法用于探測(cè)與軋制表面平行的內(nèi)部缺陷。提供了三種等級(jí)的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。還為復(fù)合鋼板的檢驗(yàn)以及其它可用的檢驗(yàn)規(guī)程提供了補(bǔ)充要求。
1.2 以英寸一磅單位或國(guó)際單位（SI）表示的值都應(yīng)分別視為標(biāo)準(zhǔn)值。正文中SI單位在括號(hào)內(nèi)示出。由于兩種單位制的數(shù)字并非精確相等，故必須獨(dú)立地分別采用。如果加以混用將導(dǎo)致標(biāo)準(zhǔn)的不一致。
2 引用標(biāo)準(zhǔn)
2．1 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)
A263 耐腐蝕鉻鋼復(fù)合板、薄板和帶材的材料技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)；
A264 不銹鉻—鎳鋼復(fù)合板、薄板和帶材的材料技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)；
A265 鎳和鎳基合金復(fù)合鋼板的材料技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。
2．2 美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
B46.1 表面組織
2．3 美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
SNT—TC—A
3 訂貨需知
3．1 詢價(jià)單和訂貨單應(yīng)指明下列各項(xiàng)要求；
3．1．1 驗(yàn)收等級(jí)要求（第7和8條）除采購(gòu)方與制造廠另有協(xié)議以外，應(yīng)采用1級(jí)驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。
3．1．2 第5.2和2.1條以及第13條中所述對(duì)本規(guī)程的條款的任何補(bǔ)充要求。
3．1．3 補(bǔ)充要求（如有必要）。
4 儀器
4．1 校核波幅線性時(shí)，應(yīng)將換能器置于IIW試塊或相似試塊的嘗試分辨力測(cè)試槽的上方，使該項(xiàng)柄的反射信號(hào)近似為滿波幅的30%，底面之一的反射信號(hào)近似為滿波幅的60%（即為槽反射信號(hào)高度的兩倍）。然后繪出一條指出偏離上面已建立的2：1比率的曲線，這種偏離出現(xiàn)在槽反射信號(hào)的波幅，按每次一格的刻度分格遞增直到底面反射信號(hào)達(dá)到滿波幅，然后再按每次一格的刻度遞減，直到槽反射信號(hào)波輻降到一格刻度。測(cè)出每次變動(dòng)的兩個(gè)信號(hào)波幅之比值。對(duì)應(yīng)較大一個(gè)信號(hào)的位置在圖上繪出這些比值。在滿波幅的20%至80%之間的范圍內(nèi)昆值的偏離應(yīng)在2：1的10%以內(nèi)，在檢查進(jìn)所用儀器的調(diào)整應(yīng)不致引起超出上述已建立的10%的范圍。
4．2 換能器應(yīng)為1或11/8in.(25或30mm)的直徑或lin.（35mm）見方。
4．3 也可采用其它的探頭來(lái)評(píng)定和精確測(cè)定顯示的信號(hào)。
5 檢驗(yàn)規(guī)程
5．1 檢查應(yīng)在不干擾檢測(cè)正常操作的場(chǎng)所進(jìn)行。
5．2 除非另有規(guī)定，可在鋼板的任一一個(gè)主要表面上進(jìn)行超聲波檢驗(yàn)。
5．3 鋼板表面應(yīng)足夠清潔和平滑，以使鋼板底面的第一次掃查時(shí)至少能保持在滿波幅的50%。可以按照制造廠的方案采用合適的方法去除銹皮�？梢跃植看蚰ケ容^粗糙的表面。為了達(dá)到適當(dāng)?shù)谋砻娲植诙榷サ舻娜魏我?guī)定的識(shí)別標(biāo)記，都應(yīng)重新標(biāo)上。
5．4 采用下述的方法之一進(jìn)行檢測(cè)：直接接觸法，液浸法或液柱耦合法。采用合適的耦合劑，如水，可溶性油或甘油。用本方法測(cè)試的后果是鋼板的表面允許殘留有油或銹，或兩者都有。
5．5 推薦采用21/4MHz的標(biāo)稱檢測(cè)頻率。當(dāng)被檢測(cè)的鋼板厚度小于3/4.in(20mm)時(shí)，可能需要采用5MHz的頻率。由于材料厚度，晶粒大小、顯微組織以及儀器或方法的特性等原因，也可以要求改用較高或較低的檢測(cè)頻率。換能器應(yīng)在其額定頻率下使用，檢驗(yàn)時(shí)，應(yīng)能產(chǎn)生清晰而又易于辨認(rèn)的掃描圖像。
5．6 掃查
5．6．1 應(yīng)沿標(biāo)稱中心距為9in. (225mm)的垂直格子線進(jìn)行連續(xù)掃查，或是按照制造廠的方案，沿垂直于鋼板主軸線的標(biāo)稱中心距為4in. (100mm)的平行線連續(xù)掃查。掃描線應(yīng)從鋼板的中心或某一個(gè)頂角開始量起，并在鋼板的探測(cè)面上離所有的邊緣不到2in. (50mm)處補(bǔ)加一條掃查線。
5．6．2 進(jìn)行一般掃查時(shí)，調(diào)節(jié)儀器使其能從鋼板無(wú)缺陷區(qū)的底面產(chǎn)生相當(dāng)于50%到90%滿波幅的第一次反射信號(hào)。監(jiān)控器靈敏度的調(diào)整可與表面粗糙度相適應(yīng)。
5．6．3 如果在一般掃查中發(fā)現(xiàn)有缺陷時(shí)，則調(diào)節(jié)儀器使其能從鋼板無(wú)缺陷區(qū)域的底面產(chǎn)生相當(dāng)于75±5%滿波幅的第一次反射信號(hào)。在評(píng)定缺陷的狀況時(shí)，應(yīng)保持這一儀器調(diào)整值。
6 記錄
6．1 記錄所有能引起底面反射信號(hào)完全消失的缺陷。
6．2 對(duì)于厚度等于或大于3/4in. (20mm)的鋼板，記錄所有其波幅等于或大于50%初始底面反射信號(hào)，并伴隨有50%底面反射信號(hào)損失的缺陷信號(hào)。
注：在始脈沖和第一次底面反射信號(hào)的中間出現(xiàn)的信號(hào)，其第二次反射信號(hào)可能會(huì)位于底面第一次反射信號(hào)之處。當(dāng)出現(xiàn)這種情況時(shí)，應(yīng)采用多次底面反射法作補(bǔ)充探測(cè)。
6．3 當(dāng)沿格子線的掃查發(fā)現(xiàn)某一格子線上有6.1和6.2所述應(yīng)記錄的情況,則應(yīng)對(duì)以這一信號(hào)處為中心的9×9in. (225×225mm)方格的整個(gè)表面區(qū)域作掃查,應(yīng)采用下述技術(shù)方法之一測(cè)定這些應(yīng)記錄情況的真實(shí)邊界:移動(dòng)換能器離開缺陷的中心,直至底面反射信號(hào)與缺陷信號(hào)的高度相等。在鋼板上標(biāo)出相當(dāng)于換能器中心的點(diǎn)。重復(fù)這種操作以測(cè)定其邊界。
7 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)— A級(jí)
7．1 任何有一個(gè)或多個(gè)缺陷引起底面反射連續(xù)全部消失并伴隨有在同一平面上連續(xù)缺陷信號(hào)的區(qū)域不能被一個(gè)直徑為3in. (75mm)或1/2板厚的圓所包圍（取大者）的均不能驗(yàn)收。
8 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)— B級(jí)
8．1 任何一個(gè)區(qū)域內(nèi)有一個(gè)或多個(gè)使底面反射連續(xù)消失并伴隨有在同一平面上連續(xù)缺陷信號(hào)的區(qū)域不能被直徑為3in. (75mm)或1/2板厚的圓所包圍（取大者）的均不能驗(yàn)收。
8．2 此外，小于8.1的規(guī)定，但有兩個(gè)或更多個(gè)的缺陷時(shí)，也應(yīng)拒收，除非其分隔的最小距離等于較大缺陷的最大直徑，或者它們能被8.1所述的圓包圍。
9 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)— C級(jí)
9．1 任何一個(gè)區(qū)域內(nèi)有一個(gè)或多個(gè)使底面反射連續(xù)消失并伴隨有在同一平面上連續(xù)缺陷信號(hào)的區(qū)域不能被一個(gè)1in. (25mm) 直徑圓所包圍的應(yīng)拒收。
10 重新審議
10．1 制造廠保留有與采購(gòu)方商討經(jīng)超聲波檢測(cè)被認(rèn)為不合格的鋼板的權(quán)利，目的是在拒收之前，能對(duì)這些由超聲波檢測(cè)指出有缺陷的部位作可能的修補(bǔ)。
11 檢查
11．1 采購(gòu)方的代表，在執(zhí)行采購(gòu)方的合同的整個(gè)過(guò)程中，可以隨時(shí)到制造廠中對(duì)所訂購(gòu)的材料進(jìn)行超聲波檢測(cè)，有關(guān)的各個(gè)部門作現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)督。制造廠應(yīng)提供一切可能方便，以使代表滿意地認(rèn)為材料確是按照本規(guī)程供貨的。除了另有規(guī)定以個(gè)，所有的檢測(cè)和驗(yàn)證在進(jìn)行時(shí)都不能妨礙制造廠的操作工序。
12 標(biāo)記
12．1 按本規(guī)程驗(yàn)收的鋼板，都應(yīng)在其一個(gè)角上作漏字板印刷（或打標(biāo)記）：“UT — A 578—A”（對(duì)于A級(jí)）和“UT A 578—B” （對(duì)于B級(jí)）。“UT — A 578—C”（對(duì)于C級(jí)）。對(duì)訂貨的每一補(bǔ)充要求，應(yīng)另加補(bǔ)充編號(hào)。
13 檢驗(yàn)報(bào)告
13．1 除了采購(gòu)方和制造廠另有協(xié)議以外，制造廠應(yīng)報(bào)告如下數(shù)據(jù)：
13．1．1 將第6條所列出的所有應(yīng)記錄的信號(hào)，標(biāo)在一張鋼板草圖上，在其上應(yīng)有鋼板幾何形狀的足夠數(shù)據(jù)，并且草圖與鋼板的數(shù)據(jù)要安全相同。
13．1．2 所采用的測(cè)試參數(shù)，包括儀器制造廠和型號(hào)，檢測(cè)頻率，表面狀況，換能器件類型和頻率）以及耦合劑；
13．1．3 檢驗(yàn)日期。
補(bǔ)充要求
這些補(bǔ)充要求僅適用于采購(gòu)方單獨(dú)規(guī)定時(shí)。當(dāng)這些要求的細(xì)節(jié)本文未述及時(shí)，則應(yīng)由制造廠和采購(gòu)方雙方協(xié)商確定。
S1 掃查
S1.1 對(duì)鋼板表面進(jìn)行100%連續(xù)掃查。
S2 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
S2.1 第6條所列出任何應(yīng)記錄的情況若為：
⑴ 連續(xù)的；
⑵ 在同一平面上（板厚的5%以內(nèi)）；
⑶ 不能被一個(gè)3in. (75mm)直徑的圓所包圍。
兩個(gè)或更多個(gè)的應(yīng)記錄的情況（見第5條），若：
⑴ 在同一平面多上（板厚的5%以內(nèi)）；
⑵ 各自能被3in. (75mm)直徑的圓所包圍；
⑶ 相互分隔的距離小于較小缺陷的最大尺寸；
⑷ 不能集中包圍在3in. (75mm)直徑的圓內(nèi)。
也是不能驗(yàn)收的。
S2.2 比第7或8條有更多限制的驗(yàn)收等級(jí)應(yīng)由制造廠與采購(gòu)方協(xié)商采用。
S3 檢驗(yàn)規(guī)程
S3.1 制造廠應(yīng)按本規(guī)程提供書面的檢驗(yàn)規(guī)程。
S4 資格證書
S4.1 制造廠應(yīng)提供有關(guān)超聲波檢測(cè)人員資格評(píng)定的證書.
S5 表面粗糙度
S5.1 在測(cè)試前應(yīng)將鋼板的表面粗糙度處理到最大不超過(guò)25µin.(3µm)AA（參見美國(guó)車家標(biāo)準(zhǔn)ANSI B46.1）。
S6 整體結(jié)合復(fù)合鋼板的檢驗(yàn) 驗(yàn)收等級(jí)S6
S6.1 采用符合本規(guī)程的檢驗(yàn)規(guī)程和技術(shù),從復(fù)合層表面對(duì)鋼板作檢驗(yàn)。
S6.2按照I級(jí)標(biāo)準(zhǔn),或當(dāng)采購(gòu)方有特殊地西游記時(shí)則按II級(jí)標(biāo)準(zhǔn)檢查基體鋼板。
S6.3 如果底面反射完全消失并伴隨出現(xiàn)復(fù)合層與基體鋼板界面的反射信號(hào)，則該復(fù)合層應(yīng)判為未結(jié)合。
S6.4 除非另有規(guī)定,按S6.3確定的未結(jié)合顯示如不能為3in. (75mm)直徑的圓所包圍，則應(yīng)按適當(dāng)?shù)牟牧霞夹g(shù)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)復(fù)合層內(nèi)缺陷修補(bǔ)的要求和范圍進(jìn)行補(bǔ)焊。
S6.5 本補(bǔ)充要求適用于下述標(biāo)準(zhǔn)：ASTM A263、A264、A265。
S7 整體結(jié)合復(fù)合鋼板的檢驗(yàn) 驗(yàn)收等級(jí)S7
S7.1 采用符合本規(guī)程的檢驗(yàn)規(guī)程和技術(shù)，從復(fù)合層表面對(duì)鋼板作檢驗(yàn)，但規(guī)定作100%表面探測(cè)的除外。
S7.2 按照I級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，或當(dāng)采購(gòu)方有特殊要求時(shí)，則按II級(jí)標(biāo)準(zhǔn)檢查基體鋼板。
S7.3 若復(fù)合層與基體鋼板的交界面上有回波顯示而同時(shí)鋼板的底面反射信號(hào)完全消失，則該復(fù)合層應(yīng)判為未結(jié)合。
S7.4 除非另有規(guī)定，按S7.3確定的未結(jié)合顯示若不能被直徑1in. (25mm)的圓所包圍，則應(yīng)按適當(dāng)?shù)牟牧霞夹g(shù)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)復(fù)合層內(nèi)缺陷修補(bǔ)的要求和范圍進(jìn)行補(bǔ)焊。此外，如果補(bǔ)焊面積超過(guò)復(fù)合面的1.5%時(shí)，應(yīng)預(yù)先得到批準(zhǔn)。
S7.5 本補(bǔ)充要求適用于下述標(biāo)準(zhǔn)：ASTM A263、A264、A265。
S8 超聲波檢驗(yàn)，用平底孔校準(zhǔn)（用于等于或大于4in. [100mm]的鋼材）
S8.1 用下述校準(zhǔn)和記錄規(guī)程代替5.6.2、5.6.3及第6條。
S8.2 換能器應(yīng)符合4.2條。
S8.3 參考反射體 應(yīng)采用深度為T/4，T/2和3T/4的平底孔來(lái)校準(zhǔn)儀器。平底孔的直徑應(yīng)按照表S8.1。各孔可以鉆的被檢鋼板中，如果它們的位置不干擾鋼板以后的使用，或鐘點(diǎn) 在被檢鋼板的延長(zhǎng)部分；或者鉆在一塊與被檢鋼板相同公稱成分或熱處理的參考試塊中。參考試塊的表面用肉眼觀察應(yīng)不優(yōu)于被檢鋼板的表面。參考試塊的厚度應(yīng)與被檢鋼板的公稱厚度相同[在被檢鋼板的75-125%或1in. (25mm)的范圍內(nèi)，取其小者]，并且其聲學(xué)特征應(yīng)與被檢鋼板相似。聲學(xué)相似性是指在不改變儀器調(diào)節(jié)的情況下，參考試塊和被檢鋼板的底面反射信號(hào)的差別≤25%。）
表S8.1 不同鋼板厚度的校準(zhǔn)孔直徑（S8）
鋼板厚度
in. (mm) |
＞1-4
（25-100） |
＞4-8
（＞100-200） |
＞8-12
（＞200-300） |
＞12-16
（＞300-400） |
|
孔徑，in. (mm) |
1/8（3） |
1/4（6） |
3/8（10） |
1/2（13） |
S8.4 校準(zhǔn)規(guī)程
S8.4.1 將探頭耦合并置于能得出T/4，T/2和3T/4處各反射體最大波幅之處。調(diào)節(jié)儀器使給出最高波幅反射體的信號(hào)波幅達(dá)到滿波幅的75±5%。
S8.4.2 不改變儀器的調(diào)節(jié)。將探頭耦合并置于�？椎恼戏剑谑静ㄆ辽蠘�(biāo)出每個(gè)孔的最大信號(hào)波幅位置及每個(gè)最小 剩余底面反射高度。
S8.4.3 在示波屏上標(biāo)出每個(gè)孔信號(hào)從掃描線至最大波幅標(biāo)記處一半的垂直距離。將各孔的最大波幅標(biāo)記點(diǎn)聯(lián)成線，并延長(zhǎng)此線使其包括整個(gè)厚度，此線即為100%DAC（距離波幅校正曲線）。同樣，將各最大波幅一半的標(biāo)記聯(lián)成線并延長(zhǎng)之，作為50%DAC。
S8.5 記錄
S8.5.1 凡是剩余底面反射波幅小于S8.4.2所得最小剩余底面反射的最高波幅的所有區(qū)域均應(yīng)記錄。
S8.5.2 凡是信號(hào)超過(guò)50%DAC的所有區(qū)域均應(yīng)記錄。
S8.5.3 當(dāng)沿給定的格子線探測(cè)出S8.5.1和S8.5.2中所列的應(yīng)記錄情況時(shí)，應(yīng)繼續(xù)掃查與該情況相鄰方格的整個(gè)表面區(qū)域，并記錄每一應(yīng)記錄情況的邊界或范圍。
S8.6 掃查應(yīng)按照5.6。
S8.7 應(yīng)按照采購(gòu)方規(guī)定采用第7或第8條的驗(yàn)收等級(jí)，但應(yīng)記錄情況應(yīng)按S8.5。
S9 電渣重溶（ESR）和真空電弧重熔（VAR）鋼板的超聲波檢驗(yàn)，厚度從1-16 in. (25-400mm)，采用平底孔校準(zhǔn)和距離波幅校正
S9.1 被檢驗(yàn)材料的表面粗糙度，對(duì)于≤8 in. (200mm)厚的板材最大為200µin.(5µm)；對(duì)于＞8-16 in. (25-400mm)厚的板材最大為250µin.(6µm)。
S9.2 采用下述規(guī)程代替5．6．1、5．6．2、5．6．3和第6條。
S9.3 換能器應(yīng)符合4.2條。
S9.4 參考反射體 應(yīng)采用深度為T/4，T/2和3T/4和平底孔來(lái)校準(zhǔn)儀器。平底孔的直徑應(yīng)按照表S9.1。孔的平底孔與檢測(cè)表面的平等度應(yīng)在1°以內(nèi)。各孔可以鉆在被檢的鋼板中，如果它們的位置不一干擾鋼板以后的使用；或者鉆在被檢鋼板的延長(zhǎng)部分；或者鉆在一塊與被檢鋼板公稱成分和熱處理的參考試塊中。參考試塊的厚度應(yīng)與被檢鋼板的公稱厚度相同[在被檢鋼板的75-125%或1in. (25mm)的范圍內(nèi)，取其小者]，并且其聲學(xué)特征應(yīng)與被檢鋼板相似。聲學(xué)相似性是指在不改變儀器調(diào)節(jié)的情況下，參考試塊和被檢鋼板的底面反射信號(hào)的差別≤25%。
S9.1 不同鋼厚度的校準(zhǔn)孔直徑（S9）
鋼板厚度
in. (mm) |
＞4-6
（100-150） |
＞6-9
（＞150-225） |
＞9-12
（＞225-300） |
＞12-20
（＞300-500） |
|
孔徑，in. (mm) |
5/8（16） |
3/4（19） |
7/8（22） |
11/8（29） |
S9.5 校準(zhǔn)規(guī)程
S9.5.1 將探頭耦合并置于能得出T/4，T/2和3T/4處各反射體最大信號(hào)波幅之處,調(diào)節(jié)儀器使給出最高波幅反射體的信號(hào)波幅達(dá)到滿波幅的75±5%.
S9.5.2 不改變儀器的調(diào)節(jié)，將探頭耦合并置于各孔的正上方，在示波屏上標(biāo)出每個(gè)孔的最大信號(hào)波幅。
S9.5.3 在示波屏上標(biāo)出每個(gè)孔信號(hào)從掃描線至最大波幅標(biāo)記處一半的垂直距離。將各孔的最大波幅標(biāo)記點(diǎn)聯(lián)成線，并延長(zhǎng)此線使其包括整個(gè)厚度，此線即為100%DAC（距離波幅度校正曲線）。同樣，將各最大波幅一半的標(biāo)記聯(lián)點(diǎn)成線并延長(zhǎng)之，作為50%DAC。
S9.6 掃查 應(yīng)該對(duì)鋼板的一個(gè)主要表面進(jìn)行100%掃查。探頭各次掃查軌跡的間隔應(yīng)能使毗鄰的掃查至少有15%的重迭，以保證有足夠的覆蓋度來(lái)發(fā)現(xiàn)缺陷。
S9.7 記錄 記錄底面反射低于50%DAC的所有區(qū)域。如果底面反射的降低在示波屏上并不伴隨有其他信號(hào)，應(yīng)將該處的表面重新修整并重新作超聲波檢測(cè)。若底面反射仍然低于50%DAC，它的損耗就可能由被檢材料的冶金結(jié)構(gòu)所引起，此材料應(yīng)擱置起來(lái)汴采購(gòu)方和制造廠進(jìn)行冶金方面的復(fù)查。
S9.8 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) 任何超過(guò)100%DAC的信號(hào)應(yīng)被認(rèn)為是不能驗(yàn)收的。制造廠可以保留與采購(gòu)方討論被超聲波檢驗(yàn)拒收的材料的權(quán)利，其目的是在板材判廢之前，對(duì)超聲波檢測(cè)指子網(wǎng)掩碼缺陷進(jìn)行可能的修補(bǔ)。
A578 / A578M - 96與A578 /A578 M - 92的級(jí)別等同對(duì)照如下：
A578 / A578 M - 96 A578 / A578 M - 92
A級(jí) II級(jí)
B級(jí) I級(jí)
C級(jí) III級(jí)
GJB
中 華 人 民 共 和 國(guó) 國(guó) 家 軍 用 標(biāo) 準(zhǔn)
FL GJB
潛 艇 耐 壓 殼 體 用 鋼 板
超 聲 波 探 傷 方 法
Ultrasomec examination on steel plate
for submarine qressure shell
國(guó)防科學(xué)技術(shù)工業(yè)委員會(huì) 批準(zhǔn)
中 華 人 民 共 和 國(guó) 國(guó) 家 軍 用 標(biāo) 準(zhǔn)
潛 艇 耐 壓 殼 體 用 鋼 板
超 聲 波 探 傷 方 法 GJB
Ultrasomec examination on steel plate
for submarine qressure shell
1
范圍
1．1 主題內(nèi)容
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了潛艇耐壓殼體用鋼板超聲波探傷方法及評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)。
1．2 適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)適用于潛艇用耐壓殼體用厚度為6-80mm的10和鋼板超聲波探傷方法及評(píng)定。
本標(biāo)準(zhǔn)也適用于其它艦用鋼板的超聲波探傷。
2 引用文件
GB 11259 超聲波檢驗(yàn)用鋼制對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)方法
GJB 593.1 無(wú)損檢測(cè)質(zhì)量控制規(guī)范超聲波縱波和橫波械檢驗(yàn)
ZB Y230 A型脈沖返射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件
ZB Y230 超聲波探傷用探頭性能測(cè)試方法
JB3111 無(wú)損檢測(cè)名詞術(shù)語(yǔ)
3 定義 本標(biāo)準(zhǔn)所用術(shù)語(yǔ)定義見JB3111。
4 一般要求
4．1 鋼板探傷采用直探頭脈沖反射法。
4．2 探傷方式采用液浸法（包括局部水液法）或直接接觸法。
4．3 超聲波探傷原則上應(yīng)在鋼板制造廠鋼板加工完畢后進(jìn)行也可在軋制后進(jìn)行。
4．4 耦合劑為水、機(jī)油、工業(yè)甘油等，其質(zhì)量應(yīng)符合GJB593第和條的規(guī)定。
4．5 探傷面為鋼板任一軋制面。當(dāng)有影響聲耦合的氧化皮、銹蝕、油污等附著物時(shí)，必須清除。
4．6 從事鋼板超聲波探傷人員應(yīng)經(jīng)過(guò)培訓(xùn)并持有權(quán)威機(jī)關(guān)頒發(fā)的技術(shù)資格證書，簽發(fā)探傷報(bào)告人員必須持有II級(jí)或II級(jí)以上超聲波探傷資格證書。
5 詳細(xì)要求
5．1 探傷裝置
5．1．1 超聲波探傷儀
5．1．1．1采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其衰減器性能、垂直線性誤差、動(dòng)態(tài)范圍、水平線性誤差和靈敏度余量應(yīng)符合條的規(guī)定。
5．1．1．2 對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)方法應(yīng)符合GB11259的規(guī)定。
5．1．2．1 根據(jù)鋼板厚度選用表1中規(guī)定的探頭。
表1
|
鋼板厚度mm |
探頭型式 |
標(biāo)稱頻率MHz |
晶片尺寸mm |
|
6 — 20 |
雙晶直探頭 |
5（4） |
直徑或邊長(zhǎng)≥20 |
|
＞20 — 80 |
直探頭 |
2．0 — 2．5 |
直徑14-30 |
5．1．2．2 雙晶直探頭性能要求應(yīng)符合附錄A的規(guī)定。
5．1．3 對(duì)比試塊
5．1．3．1 人工對(duì)比試塊的尺寸見圖1和表2
圖1
表2 mm
|
試塊厚度S |
平底孔深度t |
|
6—30 |
1/2S |
|
＞30—60 |
1/3S |
|
＞60—80 |
1/4S |
5．1．3．2 對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)方法應(yīng)符合GB11259的規(guī)定。
5．1．3．3 試塊厚度應(yīng)與被探鋼板相接近，其偏差不應(yīng)大于板厚的20%。
5．2 探傷方法
5．2．1 掃查方法
5．2．1．1 探頭掃查方向原則上應(yīng)與鋼板軋制方向垂直。
5．2．1．2 鋼板一般應(yīng)逐張進(jìn)行100%面積掃查。
5．2．1．3 當(dāng)生產(chǎn)廠認(rèn)為能夠保證產(chǎn)品質(zhì)量時(shí)，也可采取間距為50mm的平等掃查。
5．2．1．4 用雙晶直探頭掃查時(shí)，探頭分割面應(yīng)與探頭掃查方向呈垂直放置。
5．2．2 掃查速度
5．2．2．1 用直接接觸法探傷時(shí)，掃查速度應(yīng)在150mm/S以內(nèi)。
5．2．2．2 用液浸法（包括局部水浸法和薄層沖水法）探傷，并使用帶自動(dòng)報(bào)警裝置的儀器時(shí)掃查速度最大可到1000mm/S。
5．3 探傷靈敏度
用圖1和表2的試塊，將平底孔反射波高調(diào)至滿刻度的50%，并計(jì)入對(duì)比試塊與被驗(yàn)鋼板之間的表面耦合差值（dB），作為探傷靈敏度。
5．4 缺陷及其測(cè)定
5．4．1 在探傷過(guò)程中發(fā)現(xiàn)下列顯示之一作為缺陷處理。
a、缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50%，即F1≥50%者。
b、當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高未達(dá)到滿刻度時(shí)，缺陷第一次反射波（F1）波高與底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于50%，即B1＜100%，而F1/B1≥50%者。
c、當(dāng)?shù)酌妫ɑ虬宥瞬浚┑谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高低于滿刻度的50%，即B1＜50%者。
5．4．2 探出缺陷后，應(yīng)在其周圍仔細(xì)掃查。對(duì)于5.4.1中a和b的缺陷，采用半波高度法測(cè)定缺陷邊界。
5．4．3 對(duì)于5.4.1中c的缺陷，移動(dòng)探頭，使底面第一次反射波高（B1）升到滿刻度的50%，此時(shí)探頭中心移動(dòng)的軌跡即為缺陷邊界。
5．4．4 用雙晶直探頭測(cè)定缺陷邊界時(shí)，探頭移動(dòng)方向與探頭分割面相垂直。
5．4．5 將指示長(zhǎng)度大于等于25mm的缺陷記入探傷記錄。
5．5 缺陷的評(píng)定方法
5．5．1 一個(gè)缺陷按其表現(xiàn)的最大長(zhǎng)度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度。當(dāng)兩個(gè)或兩個(gè)以上缺陷鄰接在一條直線上而其間距小于相鄰缺陷中較小缺陷的指示長(zhǎng)度時(shí)，則可看作為包括間距在內(nèi)的連續(xù)缺陷，其總和作為單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度。
5．5．2 相鄰缺陷間距小于等于120mm時(shí)，兩缺陷面積之和作為一個(gè)缺陷面積。
5．5．3 缺陷密集度的評(píng)定
5．5．3．1 對(duì)于鋼板內(nèi)區(qū)求出一平方米面積內(nèi)指示長(zhǎng)度大于等于25mm缺陷的個(gè)數(shù)，以此進(jìn)行評(píng)定，此時(shí)，矩形的短邊長(zhǎng)度應(yīng)大于400mm。
5．5．3．2對(duì)于鋼板周邊或坡口預(yù)定線，求出任意連續(xù)3mm長(zhǎng)度內(nèi)指示長(zhǎng)度大于等于25mm缺陷的個(gè)數(shù)，以此進(jìn)行評(píng)定。
5．5．4 鋼板缺陷平均個(gè)數(shù)的評(píng)定
5．5．4．1 整張鋼板中，以鋼板總面積平均，指示長(zhǎng)度大于等于25mm的缺陷個(gè)數(shù)進(jìn)行評(píng)定。
5．5．4．2 對(duì)鋼板周邊或坡口予定線，以其總長(zhǎng)度平均，指示長(zhǎng)度大于25mm的缺陷個(gè)數(shù)進(jìn)行評(píng)定。
5．6 評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)
缺陷各參數(shù)不超過(guò)表3、表4時(shí)為合格
表3
|
鋼板厚度mm |
單個(gè)缺陷最大指示長(zhǎng)度mm |
單個(gè)缺陷最大指示面積cm² |
密集度
個(gè)/m |
鋼板總面積缺陷平均度個(gè)/m |
|
6—30 |
100 |
9 |
10 |
1 |
|
＞30—60 |
80 |
16 |
10 |
1 |
|
＞60—80 |
80 |
16 |
15 |
1 |
表4
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鋼板厚度mm |
單個(gè)缺陷最大指示長(zhǎng)度mm |
單個(gè)缺陷最大指示面積cm² |
密集度
個(gè)/m |
鋼板總面積缺陷平均度個(gè)/m |
|
四周或坡口 |
50 |
9 |
6 |
1 |
5．7 探傷報(bào)告
a、被探鋼板情況：鋼號(hào)、爐罐號(hào)、批號(hào)、規(guī)格和鋼板狀況等。
b、探傷條件：儀器型號(hào)、探頭型式規(guī)格、試塊、耦合劑、探傷方式。
c、探傷結(jié)果：將缺陷位置及大小作為示意圖，并作出合格與否的評(píng)定。
d、操作者、報(bào)告簽發(fā)者、審核者的姓名、技術(shù)資格和報(bào)告日期等。
附錄A
雙晶片直探頭性能
（補(bǔ)充件）
A1 探頭性能
A1.1 距離—波幅特性曲線
用ZB Y231規(guī)定的DB-D1試塊，在各個(gè)厚度上測(cè)定其回波高度（dB），作出如圖A1所示的特性曲線，該曲線應(yīng)下述要求：
a、 在厚度19mm上的回波高度，與最大回波高度差應(yīng)在3dB～-6dB的范圍內(nèi)。
b 、 在厚度3mm上的回波高度，與最大回波高度差應(yīng)在3dB～-6dB的范圍內(nèi)。
A1.2 表面反射波高度
直接接觸法測(cè)得的表面反射波高度，應(yīng)比最大回波高度低40dB以上。
A1.3 檢出靈敏度
圖A2試塊平底孔反射波高度，與最大反射波高度差應(yīng)在-10dB±2dB的范圍內(nèi)。
A1.4 有效聲束寬度
探頭置于A2試塊平底孔上，順探頭分割面方向移動(dòng)，測(cè)定最大反射波位置,再向兩側(cè)移動(dòng)到降低6 dB的范圍，為有效聲束寬度，其值應(yīng)不小于15mm。
圖A1 距離—振幅特性曲線
圖 A2
中華人民共和國(guó)國(guó)家軍用標(biāo)準(zhǔn)
FL 9515 GJB 1496A—2000
裝甲用28Cr2Mo、26SiMnMo和
22SiMn2TiB鋼板規(guī)范
2004—04—24發(fā)布 2000—09—07實(shí)施
中國(guó)人民解放軍總裝備部 批準(zhǔn)
附錄B
超聲波檢驗(yàn)方法（補(bǔ)充件）
B1 主題內(nèi)容與適用范圍
B1.1 主題內(nèi)容
本附錄規(guī)定了裝甲用轉(zhuǎn)爐28Cr2Mo、26SiMnMo、22SiMn2TiB鋼板超聲波檢驗(yàn)方法、缺陷評(píng)定、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、報(bào)告與標(biāo)志等。
B1.2 適用范圍
本附錄適用于裝甲用28Cr2Mo、26SiMnMo、22SiMn2TiB鋼軋制厚度為10ｍｍ～30ｍｍ鋼板。
B2 一般規(guī)定
B2.1 本附錄規(guī)定的脈沖反射式縱波直聲波檢驗(yàn)方法能夠檢查出平行于鋼板軋制表面的破壞金屬連續(xù)性的缺陷，例如：分層、非金屬夾雜、氣泡等。
B2.2 鋼板在軋制或熱處理狀態(tài)下進(jìn)行檢驗(yàn)，鋼板表面應(yīng)清潔、光滑、不應(yīng)有影響檢驗(yàn)的氧化鐵皮、銹蝕、油污等。
B2.3 藕合劑可用油或水，采用局部水浸法檢驗(yàn)時(shí)，檢驗(yàn)用水應(yīng)清潔，清除影響檢驗(yàn)靈敏度的氣泡、雜質(zhì)等，水溫以5°C~40°C為宜。
B3 探傷儀及探頭
B3.1 探傷儀應(yīng)符合ZBY 230的規(guī)定。
B3.2 探頭可采用單晶探頭，或雙晶直探頭，晶片直徑為φ20ｍｍ～φ25ｍｍ或面積相當(dāng)?shù)木匦尉?br />
B3.3 允許采用其它形式的探頭進(jìn)行缺陷評(píng)定及缺陷定位。
B4 檢驗(yàn)方法
B4.1 可采用直接接觸法、局部水浸法或液柱藕合法。
B4.2 檢驗(yàn)頻率可根據(jù)鋼板厚度、晶粒度、微觀組織、儀器性能等，選用頻率為2MHz～5 MHz。
B4.3 檢驗(yàn)靈敏度為鋼板完好區(qū)第一次底面回波幅度等于滿幅的50%～90%。
B4.4 探頭掃查可在鋼板任一軋制面上進(jìn)行，沿垂直于鋼板軋制方向作平行掃查，掃查間距為75ｍｍ，并沿鋼板公稱尺寸四周50ｍｍ以內(nèi)進(jìn)行復(fù)加掃查。
B5 缺陷評(píng)定方法
B5.1 評(píng)定缺陷靈敏度與檢驗(yàn)靈敏度應(yīng)一致。
B5.2 下述缺陷為記錄缺陷
a、無(wú)底在面回波，只有缺陷回波的多次反射。
b、缺陷回波波幅等于或大于第一次底面回波波幅的50%或使用底面回波波幅降低50%的所有缺陷。
B5.3 缺陷面積的確定
移動(dòng)探頭并記錄底面回波與缺陷回波相等時(shí)的探頭中心點(diǎn)，連接各點(diǎn)所圍成的范圍，即為缺陷面積。
B6 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
B6.1
I級(jí)
在任何區(qū)域,如發(fā)現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)回波消失，同時(shí)在同一深度上有連續(xù)的缺陷回波，而這些缺陷能被直徑為75ｍｍ的圓包圍時(shí)。
B6.2 II級(jí)
鋼板上存在B5.2a規(guī)定的不能為75ｍｍ直徑圓包圍的缺陷。
B7 報(bào)告與標(biāo)志
B7.1 檢驗(yàn)操作應(yīng)由持有有關(guān)部門認(rèn)可的超聲檢驗(yàn)II級(jí)技術(shù)資格證書的人員或在II級(jí)人員指導(dǎo)下的I級(jí)人員承擔(dān)，但簽發(fā)報(bào)告應(yīng)由檢驗(yàn)II級(jí)或II級(jí)以上人員負(fù)責(zé)。
B7.2 檢驗(yàn)操作必須有原始記錄。
B7.3 按本方法檢查合格的鋼板應(yīng)在鋼板打字端用鋼印打清驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的合格級(jí)別，即I級(jí)標(biāo)志為“UT-1”，II級(jí)標(biāo)志為“UT-2”。
鋼鐵產(chǎn)品對(duì)厚度≥6mm鋼板的超聲波檢驗(yàn)
質(zhì)量定義———檢驗(yàn)方法
（法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)）
NF A04——305
1983年5月
前 言
采用較寬網(wǎng)格的超聲波檢驗(yàn)不能系統(tǒng)地探測(cè)出所有缺陷，它只能給出缺陷出現(xiàn)的頻繁度及嚴(yán)重程度的大概值。然而，經(jīng)驗(yàn)表明，不必對(duì)鋼板進(jìn)行100%的檢驗(yàn)以判斷質(zhì)量水平。
因此，凡是鋼板的最終使用不允許接受由采用本標(biāo)準(zhǔn)所允許的缺陷時(shí)，就應(yīng)采用其他檢驗(yàn)技術(shù)。
1 目的
本標(biāo)準(zhǔn)描述對(duì)厚度≥6mm的非合金或合金鋼板的內(nèi)部缺陷進(jìn)行超聲檢驗(yàn)的方法。而且還根據(jù)制訂的準(zhǔn)則按質(zhì)量升級(jí)的順序規(guī)定出三種質(zhì)量等級(jí)：A級(jí)、B級(jí)、C級(jí)。
2 適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)適用于標(biāo)稱厚度≥6mm的非合金或合金鋼的無(wú)涂層鋼板，不包括奧氏體鋼或奧氏體合金鋼。
然而，經(jīng)事先同意 后，本標(biāo)準(zhǔn)可適用于奧氏體鋼或奧氏體合金鋼；但條件是：電噪聲電平必須低于所采用的方法的探測(cè)臨界值的振幅。本標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的驗(yàn)收準(zhǔn)則不適用于超聲波穿透法檢驗(yàn)。
3 參考資料
A09——300 無(wú)損探傷——超聲波檢驗(yàn)專業(yè)詞匯
A09——320 金屬產(chǎn)品超聲波檢驗(yàn)手冊(cè)設(shè)備性能審核部分
4 方法
4.1 方法原則
所采用的方法根據(jù)縱向形式的超聲波的反射原理，其平均方向垂直于探頭表面。檢驗(yàn)包括：
(a) 缺陷檢查：比較缺陷反射信號(hào)的高度，與缺陷同深度處給定直徑的平底孔的反射信號(hào)高度。
（b）缺陷界定：缺陷的范圍由探頭中心連續(xù)位置界定，此時(shí)缺陷反射信號(hào)高度等于最大高度的一半。（6dB）
對(duì)所有厚度鋼板的探測(cè)應(yīng)在超聲波第一行程中執(zhí)行
4.2 設(shè)備
4.2.1說(shuō)明
探測(cè)設(shè)備應(yīng)有一個(gè)波器屏幕，能夠跟蹤通過(guò)材料的超聲波，并且根據(jù)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)A09——320進(jìn)行過(guò)校核。放大刻度以分貝為單位掃描的功率及速度（以時(shí)間為基準(zhǔn)）應(yīng)能在較大范圍內(nèi)可調(diào)節(jié)。設(shè)備應(yīng)至少有一個(gè)探頭，它可以是垂直的單晶探頭用于發(fā)射及接收，或者是一個(gè)雙晶探頭�？紤]到發(fā)射及接收時(shí)的波是縱向形式，其平均方向幾乎垂直于鋼板表面。
探頭的頻率及尺寸應(yīng)能保證在檢驗(yàn)范圍內(nèi)靈敏度。直探頭的盲區(qū)應(yīng)盡可能小，且不得大于10mm。雙晶探頭的江聚區(qū)應(yīng)按鋼板厚度進(jìn)行調(diào)整。
使用的探頭的標(biāo)稱頻率應(yīng)在2—5MHZ之間，且晶片尺寸應(yīng)在10——25mm之間。探頭的選用應(yīng)依照鋼板厚度而定，具體見下表：
|
鋼板的標(biāo)稱厚度 |
探頭的類型 |
|
e≤20mm |
非零度傾角的雙晶探頭 |
|
20mm<e≤60mm |
零度傾角的雙晶探頭 |
|
e>60mm |
直探頭 |
探頭可以手持或安裝在一個(gè)連續(xù)探傷系統(tǒng)上，緩慢移動(dòng)，使缺陷容易識(shí)別出來(lái)，要考慮到屏幕余輝效應(yīng)或缺陷信號(hào)裝置的響應(yīng)時(shí)間。若是雙晶探頭，其兩個(gè)晶片間的隔聲層應(yīng)垂直于探頭移動(dòng)方向。
4.2.2探頭的特性曲線
對(duì)于每個(gè)探頭，應(yīng)確定出以下特性曲線：3
——測(cè)出不同板厚的底面回波高度變化的曲線（見圖1中的曲線1）。
——測(cè)出一下直徑的平底孔，在不同深度時(shí)回波高度變化的曲線（見圖1中的曲線2）。
直徑11mm（Φ11）（對(duì)應(yīng)面積為100mm²的缺陷）適用于A級(jí)
直徑8mm（Φ8） （對(duì)應(yīng)面積為50mm²的缺陷）適用于B級(jí)
直徑5mm（Φ5） （對(duì)應(yīng)面積為20mm²的缺陷）適用于C級(jí)
當(dāng)用雙晶探頭進(jìn)行檢驗(yàn)時(shí)，對(duì)于所有級(jí)別，只有使用5mm直徑（Φ5）的孔。因?yàn)橄鄳?yīng)于8mm及mm直徑孔的特性曲線與底面反射回波曲線非常接近。
應(yīng)采用試塊確定這些曲線（階梯試塊用于測(cè)底面回波高度變化曲線；具有不同深度的平底孔的方試塊用于測(cè)直徑為11mm、8mm、5mm的特性曲線。且試塊尺寸大小應(yīng)使得沒(méi)有側(cè)壁效應(yīng)）。試塊應(yīng)由組織均勻的碳鋼制成。每條曲線至少應(yīng)在探頭適用范圍里取5點(diǎn)確定。
4.2.3 設(shè)備的調(diào)節(jié)
設(shè)備在使用前的調(diào)節(jié)，具體涉及到掃描速度，功率及放大率的確定。
掃描速度的調(diào)節(jié)應(yīng)使得示波器上傳輸回波與底波回波之間的距離是以清晰地顯示出缺陷回波。
功率及放大率的調(diào)節(jié)，應(yīng)在無(wú)任何缺陷的完好區(qū)域上同時(shí)進(jìn)行。
然后將第一次底面反射波調(diào)到底面反射回波曲線上，反射波高度的調(diào)節(jié)通過(guò)功率及放大率的同時(shí)調(diào)節(jié)進(jìn)行，在檢查中，選擇出能使盲區(qū)達(dá)到最小的那種狀態(tài)。探測(cè)中建議應(yīng)盡可能保持一個(gè)單個(gè)功率值，這是由于4.2.2中規(guī)定的放大率設(shè)定值允許在屏幕極限內(nèi)評(píng)價(jià)缺陷。
4.3 耦合條件———鋼板的表面狀態(tài)
耦合介質(zhì)應(yīng)保證在探頭與鋼板表面之間有足夠的聲傳輸。通常采用水，但也可采用其他介質(zhì)（油、漿糊等）。
通常在檢驗(yàn)時(shí)不需對(duì)鋼板表面特別準(zhǔn)備，但被檢驗(yàn)的表面硬物粘著氧化物、灰塵、油污等影響耦合條件的外來(lái)物。表面狀態(tài)應(yīng)當(dāng)是在沒(méi)有內(nèi)部缺陷的區(qū)域，至少能區(qū)分出兩個(gè)連續(xù)的底面回波，且其波高不小于對(duì)所檢厚度的底面回波的特性曲線的波高。
5 檢驗(yàn)條件
5.1 總則
在檢驗(yàn)時(shí)，掃描形式如5.2.1及5.2.2所述。鋼板檢驗(yàn)僅在一面進(jìn)行。當(dāng)能夠判斷鋼板是否符合要求之后，即可停止操作。
超聲波檢驗(yàn)應(yīng)在生產(chǎn)廠，由生產(chǎn)廠根據(jù)規(guī)定由取得三級(jí)檢驗(yàn)員資格，或由等同認(rèn)可資格的檢驗(yàn)員進(jìn)行。當(dāng)合同中有規(guī)定時(shí)，可在用戶或其代表在場(chǎng)時(shí)進(jìn)行檢驗(yàn)。
5.2掃描方式
5.2.1 A級(jí)鋼板
掃描方式應(yīng)在合同中詳細(xì)寫出，應(yīng)當(dāng)包括：
(a)鋼板四周檢驗(yàn)：即沿鋼板交付尺寸的所有4個(gè)邊緣的帶狀區(qū)域探測(cè)，帶寬等同于板厚，最小為50mm。
（b）鋼板本體檢驗(yàn)：①即先按（a）款進(jìn)行鋼板四周檢驗(yàn)。②后續(xù)檢驗(yàn)；沿著平行于鋼板邊緣的200mm見方的方格的各邊進(jìn)行；或者沿著在表面上均勻分布的線，給出相同的檢驗(yàn)程度。
5.2.2 B級(jí)和C級(jí)鋼板掃描方式包括：
(a) 鋼板四周檢驗(yàn)：沿鋼板交付尺寸的所有4個(gè)邊緣的帶狀區(qū)域探測(cè)，帶寬為板厚的1.5倍，最小為50mm。
（b）鋼板本體檢驗(yàn)：沿著與鋼板邊平行的100mm的方格的各邊進(jìn)行�；蜓刂诒砻嫔暇鶆蚍植嫉木�，給出相同的檢驗(yàn)程度。
對(duì)于C級(jí)鋼板，根據(jù)草圖，對(duì)于要焊接的區(qū)域，在合同上由協(xié)議規(guī)定出與鋼板四周上的掃描相一致的掃描方式。
5.2.3 經(jīng)事先同意，可以規(guī)定其它的掃描方式。
5.3操作方式：
應(yīng)根據(jù)4.2.3對(duì)設(shè)備進(jìn)行調(diào)節(jié)，按選定的掃描方式進(jìn)行掃描，首先定出缺陷位置，接著確定其大小。
5.3.1 缺陷的探測(cè)
對(duì)于給定厚度的鋼板，此方法為：將底面回波高度調(diào)到“底面反射高度變化曲線”上的某值，并根據(jù)所選定的級(jí)別，將缺陷回波高度與特性曲線（直徑11.8及5mm）相比較。只有缺陷回波高度大于特性曲線的高度時(shí)，才將其定義為缺陷。
5.3.2 缺陷大小的確定
5.3.2.1 整張鋼板的檢驗(yàn)
5.3.2.1.1 使用雙晶探頭進(jìn)行檢驗(yàn)
應(yīng)將所有發(fā)現(xiàn)的缺陷界定其尺寸,缺陷范圍由探頭中心位置決定.缺陷范圍由缺陷反射波高度等于其最大高度的一半來(lái)確定(即6dB法).這種確定缺陷范圍的工作應(yīng)采用同一探頭或具有相似特性曲線的探頭來(lái)完成,發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)將其標(biāo)出.
缺陷的界線確定了缺陷的表面積S,兩處處相鄰的缺陷,當(dāng)其間距小于或等于兩者間小者的長(zhǎng)度時(shí),這兩處缺陷應(yīng)被視為連續(xù)的,其表面積這這兩處缺陷表面積之和.
5.3.2.1.2使用單直探頭進(jìn)行檢驗(yàn)
檢驗(yàn)包括:
——對(duì)于A級(jí)鋼板。按5.3.2.1.1中規(guī)定的6dB法確定缺陷邊界。
——對(duì)于B級(jí)和C級(jí)鋼板：采用Φ5、Φ8、Φ11平底孔的特性曲線來(lái)確定缺陷個(gè)數(shù)，這種計(jì)數(shù)應(yīng)在檢驗(yàn)期間進(jìn)行。
具體確定缺陷個(gè)數(shù)方法如下：
——對(duì)于B級(jí)：確定出回波高度大于Φ11平底孔特性曲線的缺陷個(gè)數(shù)以及回波高度在Φ8和Φ11特性曲線之間的缺陷個(gè)數(shù)NB。
——對(duì)于C級(jí)：確定出回波高度大于Φ8平底孔特怕曲線的缺陷個(gè)數(shù)以及回波高度在Φ5和Φ8特性曲線之間的缺陷個(gè)數(shù)NC。
5.3.2.2 鋼板四周檢驗(yàn)
檢驗(yàn)包括對(duì)鋼板四周的帶狀區(qū)域的整個(gè)表面進(jìn)行掃查,檢驗(yàn)條件與鋼板本體的檢驗(yàn)條件相同;鋼板四周的帶狀區(qū)域按5.2.1和5.2.2中規(guī)定執(zhí)行.
發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí),可按其最大表面積(S)命名,也可按其平等于邊緣方向上的最大長(zhǎng)度(L)命名.這些缺陷的界定用6dB法確定.
5.4驗(yàn)收準(zhǔn)則
表1a及表1b給出了使用不同類型探頭時(shí)三種質(zhì)量等級(jí)(A級(jí)、B級(jí)、C級(jí))的驗(yàn)收準(zhǔn)則。按照合同規(guī)定，鋼板交付時(shí)可以是鋼板本體與四周邊緣處于不同等級(jí)。
6 文件
生產(chǎn)廠應(yīng)擔(dān)供一份符合本標(biāo)準(zhǔn)的證書。
如果合同中有規(guī)定，應(yīng)將包括有以下內(nèi)容的探傷報(bào)告提供給用戶：
——被檢驗(yàn)鋼板的參數(shù)。
——探頭特性及設(shè)備的類型。
——使用的操作條件（耦合劑、掃查形式等）
——檢驗(yàn)結(jié)果
注釋：
（1）合同同意可以具體規(guī)定出，底面回波消失而無(wú)中（缺陷）反射波出現(xiàn)的情況。
（2）見A09—300標(biāo)準(zhǔn)。
（3）當(dāng)鋼板組織要求時(shí)，也可采用較低的頻率。在此情況下，可以使用較大直徑的探頭。
（4）按草圖要求焊接的區(qū)域。
表1a 采用雙晶探頭進(jìn)行檢驗(yàn)的驗(yàn)收準(zhǔn)則
|
級(jí)別 |
不可接受的分散缺陷 |
不可接受的群集缺陷 |
|
缺陷大小 |
最大密度不大于 |
A |
本
體 |
S>1000 m㎡ |
100<S≤1000m㎡ |
—在最密度集處的200mm見方區(qū)域內(nèi)：4個(gè)
—在最密集處的1mm見方區(qū)域內(nèi)：15個(gè) |
邊
緣 |
L>30mm或S>1000 m㎡ |
100<S≤1000m㎡ |
—在最密集處的1m長(zhǎng)度內(nèi)：3個(gè) |
B |
本
體 |
S>100 m㎡ |
50<S≤100 m㎡ |
—在最密集處的100mm見方區(qū)域內(nèi)：2個(gè)
—在最密集處的1m見方區(qū)域內(nèi)：10個(gè) |
|
邊緣 |
L>20mm或S>100 m㎡ |
50<S≤100 m㎡ |
—在最密集處的1 m長(zhǎng)度內(nèi)：2個(gè) |
C |
本
體 |
S>50 m㎡ |
20<S≤50 m㎡ |
—在最密集處的100mm見方區(qū)域內(nèi)：2個(gè)
—在最密集處的1m見方區(qū)域內(nèi)：5個(gè) |
|
邊緣 |
L>15mm或S>50 m㎡ |
20<S≤50 m㎡ |
—在最密集處的1 m長(zhǎng)度內(nèi)：2個(gè) |
|
① 草圖上要求的焊接區(qū)域 |
表1b 用單直探頭進(jìn)行檢驗(yàn)的驗(yàn)收準(zhǔn)則
級(jí)別
|
不可接受的分散缺陷 |
不可接受的群集缺陷 |
|
缺陷大小 |
最大密度不大于 |
A |
本體 |
S>1000m㎡ |
100<S≤1000m㎡ |
—在最密集處的200mm見方區(qū)域內(nèi)：4個(gè)
—在最密集處的1m見方區(qū)域內(nèi)：15個(gè) |
|
邊緣 |
L>30mm或S>1000m㎡ |
100<S≤1000m㎡ |
—在最密集處的1m長(zhǎng)度內(nèi)：3個(gè) |
B |
本體 |
波高大于Φ11平底孔特性曲線的缺陷 |
NB
（直徑介于Φ8和Φ11之間） |
—在最密集處的100mm見方區(qū)域內(nèi)：2個(gè)
—在最密集處的1m見方區(qū)域內(nèi)：10個(gè) |
|
邊緣 |
L>20mm或S>100m㎡ |
50<S≤100m㎡ |
—在最密集處的1m長(zhǎng)度內(nèi)：2個(gè) |
C |
本
體 |
波高大于Φ8平底孔特性曲線的缺陷 |
NC
（直徑介于Φ5和Φ8之間） |
—在最密集處的100mm見方區(qū)域內(nèi)：2個(gè)
—在最密集處的1m見方區(qū)域內(nèi)：5個(gè) |
|
邊緣 |
L>15mm或S>50m㎡ |
20<S≤50m㎡ |
—在最密集處的1m長(zhǎng)度內(nèi)：2個(gè) |
|
①草圖上要求的焊接區(qū)域 |
西氣東輸用鋼板（X70）探傷標(biāo)準(zhǔn)
XQ13-2000
西氣東輸用鋼板（X70）的探傷，是按照中國(guó)石油天然氣股份有限公司西氣東輸管道分公司，發(fā)布的Q/SY XQ13-2002技術(shù)條件進(jìn)行。Q/SY XQ13-2002技術(shù)條件中有關(guān)探傷的內(nèi)容如下：
9.4無(wú)損檢測(cè)
9.4.1.1所有鋼板均應(yīng)進(jìn)行目視檢查和超聲波檢查，以檢測(cè)鋼板表面和內(nèi)部分層缺陷。
9.4.1.2超聲波檢測(cè)耦合方式可選擇：接觸法、液浸法和局部液浸法。
9.4.1.3在生產(chǎn)之前應(yīng)將鋼板超聲波檢測(cè)方法用書面形式提交給購(gòu)方。
9.4.1.4檢測(cè)結(jié)果應(yīng)有正規(guī)報(bào)告，并作為正式檢驗(yàn)報(bào)告提供給供方。
9.4.2超聲波檢測(cè)技術(shù)要求
9.4.2.1儀器及設(shè)備
9.4.2.1.1所使用的超聲波設(shè)備應(yīng)是脈沖回波反射式儀器，自動(dòng)化超聲波檢測(cè)系統(tǒng)應(yīng)配有噴標(biāo)、聲光報(bào)警系統(tǒng)，用以發(fā)現(xiàn)缺陷及監(jiān)視探頭與鋼板表面之間的耦合情況，并具備記錄功能。應(yīng)提交檢測(cè)及儀器校驗(yàn)技術(shù)規(guī)范，特別是對(duì)于動(dòng)態(tài)工作和校驗(yàn)方式中所發(fā)現(xiàn)的缺陷、位置進(jìn)行確認(rèn)，并將確認(rèn)方法提交給購(gòu)方。
9.4.2.1.2探頭：探頭晶片直徑或邊長(zhǎng)小于30mm，也可選擇有效聲束面積至少為450mm²的其他探頭，頻率推薦使用2.5MHz、2.25MHz，在評(píng)估和精確定缺陷時(shí)，允許所有其它探頭。
9.4.2.1.3耦合劑：機(jī)油、水或其他有效耦合介質(zhì)。
9.4.2.2對(duì)比試塊
9.4.2.2.1采用鋼板上鉆出的圓形平底孔作為校準(zhǔn)對(duì)比試塊，她是用于校準(zhǔn)儀器和檢測(cè)系統(tǒng)的標(biāo)樣。對(duì)比試塊人工缺陷的尺寸不應(yīng)理解為這些設(shè)備所能檢測(cè)缺陷的最小尺寸。
9.4.2.2.2對(duì)比試塊與被檢鋼板應(yīng)具有相似的表面狀態(tài)和聲學(xué)性能。
9.4.2.2.3對(duì)比試塊尺寸為：
平底孔直徑：6（0，+0.35）mm
平底孔深度按下述要求：
|
鋼板厚度，mm |
平底孔深度 |
|
17.5 |
T/2 |
|
21.0 |
10mm |
|
26.2 |
T/4 |
|
30.4 |
T/4 |
9.4.2.2.4對(duì)比試塊人工缺陷幾何尺寸應(yīng)由專門計(jì)量機(jī)構(gòu)測(cè)量檢定。
9.4.2.3儀器及系統(tǒng)校準(zhǔn)和校驗(yàn)
為證實(shí)檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)程序的有效性，檢測(cè)系統(tǒng)/儀器采 用對(duì)比試塊或經(jīng)購(gòu)方認(rèn)可的其他對(duì)比試塊進(jìn)行校驗(yàn)。
9.4.2.3.1靜態(tài)校準(zhǔn)：靜態(tài)下以對(duì)比試塊上的平底孔產(chǎn)生的信號(hào) 100%幅度作為設(shè)備設(shè)定的觸發(fā)/報(bào)警界限。
9.4.2.3.2動(dòng)態(tài)校準(zhǔn)：采用人工或其它方式移動(dòng)對(duì)比試塊或探頭，移動(dòng)速度應(yīng)大于或等于正常檢測(cè)速度調(diào)節(jié)設(shè)定靈敏度，使探頭均能檢測(cè)出對(duì)比試塊人工缺陷，且能觸發(fā)報(bào)警系統(tǒng)。
9.4.2.3.3校驗(yàn)頻次：校驗(yàn)頻次為每4小時(shí)或每檢測(cè)10張鋼板校驗(yàn)一次（以時(shí)間較長(zhǎng)者為準(zhǔn)），但當(dāng)交接班或操作人員更換時(shí)檢測(cè)設(shè)備也應(yīng)校驗(yàn)。
9.4.2.3.4生產(chǎn)過(guò)程中，若發(fā)現(xiàn)檢測(cè)儀器或系統(tǒng)不滿足校準(zhǔn)要求，而且將靈敏度提高3dB后仍不能滿足校準(zhǔn)要求，則上次校驗(yàn)后檢測(cè)過(guò)的所有鋼板應(yīng)在重新校準(zhǔn)后進(jìn)行檢測(cè)。
9.4.2.4檢測(cè)掃查方式
超聲波自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng)可依照ASTM A435標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定選擇掃查方式，掃查至少能覆蓋鋼板表面的25%。如在線超聲波檢測(cè)存在盲區(qū)，則至少縱向板邊50mm、板端300mm范圍內(nèi)應(yīng)用人工超聲波檢測(cè)或其它有效檢測(cè)方式進(jìn)行檢測(cè)。
9.4.2.5驗(yàn)收
9.4.2.5.1未產(chǎn)生觸發(fā)/報(bào)警的鋼板判為合格。
9.4.2.5.2產(chǎn)生觸發(fā)/報(bào)警的鋼板應(yīng)視為可疑，應(yīng)按本技術(shù)條件重新進(jìn)行復(fù)驗(yàn)，如復(fù)驗(yàn)中未產(chǎn)生觸發(fā)/報(bào)警，則應(yīng)判為合格鋼板。產(chǎn)生觸發(fā)/報(bào)警的鋼板，則認(rèn)為該鋼板可疑。
9.4.2.5.3對(duì)可疑鋼板可疑區(qū)域，應(yīng)采用手動(dòng)超聲波檢測(cè)方式，確定分層的位置、范圍和大小，按8.6規(guī)定進(jìn)行處理。
附錄：Q/SY XQ13-2002技術(shù)條件中8.6條規(guī)定
8.6 分層
鋼板端頭及縱側(cè)邊上不允許存在分層。
鋼板端部及縱側(cè)邊25mm范圍內(nèi)的分層均是為缺陷，有這種缺陷的鋼板應(yīng)切除，直到除去這種分層為止。
其它部位上的允許分層的界限值為：
任何方向不允許存在長(zhǎng)度超過(guò)50mm的分層；長(zhǎng)度在30mm~50mm的分層相互間距應(yīng)大于500mm；長(zhǎng)度小于30mm、相互間距小于板厚的若干小分層構(gòu)成連串性分層，該連串性分層中的所有小分層長(zhǎng)度總和不得大于80mm。
超聲波檢驗(yàn)鋼板、帶材和扁材內(nèi)部缺陷的
驗(yàn)收等級(jí)規(guī)范 BS5996:1993
1、適用范圍
本英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用超聲波檢驗(yàn)鐵素體和奧氏體鋼板，帶材和寬扁材料內(nèi)部缺陷的驗(yàn)收等級(jí)。6個(gè)驗(yàn)收等級(jí)（B1——B6）適用于材料的本體，3個(gè)驗(yàn)收等級(jí)（E1——E3）適用于材料的邊緣。還為奧氏體鋼板規(guī)定了兩個(gè)驗(yàn)收等級(jí)，一個(gè)用于材料本體（B7），另一個(gè)用于材料邊緣（E4）。
本英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)包括用人工、輔助人工，半自動(dòng)或自動(dòng)檢驗(yàn)方法檢驗(yàn)厚度范圍在5mm——200 mm的材料。本英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)可用于指定用于生產(chǎn)焊管的鋼板、帶材的超聲波檢驗(yàn)，可根據(jù)驗(yàn)收等級(jí)B1——B4和E1——E3探測(cè)內(nèi)部缺陷。
注1：當(dāng)確定材料用于關(guān)鍵用途，以及對(duì)于某些等級(jí)的奧氏體鋼種，可由買方規(guī)定那兩個(gè)特殊的驗(yàn)收等級(jí)，一個(gè)用于材料本體，加一個(gè)用于材料邊緣（分別如BX和EX ）。當(dāng)規(guī)定這些驗(yàn)收等級(jí)時(shí)，買方和生產(chǎn)廠之間應(yīng)協(xié)商檢驗(yàn)靈敏度和將要采納的參考標(biāo)準(zhǔn)，以及缺陷大小和總體密度的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。
注2：依照本英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)提供的材料可符合任何用于材料本體或材料邊緣的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)，或用于材料本體和邊緣的任何組合的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)，例如：B3、E2、B3E3、B3E2。
注3：對(duì)于厚度小于5mm和大于200 mm（或?qū)τ谟苫瘜W(xué)成分決定的奧氏體鋼板，厚度小于200 mm的鋼板，用超聲波檢驗(yàn)來(lái)探測(cè)內(nèi)部缺陷可能要經(jīng)歷一些困難。在此情況下，要求買方和生產(chǎn)廠之間進(jìn)行協(xié)商，以確定任何與本英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)不符之處。
2、標(biāo)準(zhǔn)參照
本英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)參考了其它出版社的規(guī)定版本中的條款。在本文適當(dāng)?shù)牡胤揭昧诉@些參照標(biāo)準(zhǔn)，在封底內(nèi)側(cè)列了出版社。對(duì)這些刊物隨后做的修正或其修訂本，只有在本英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)引入修正或修訂本時(shí)，才適用于本英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)。
3、定義
對(duì)于本英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)，在BS3683第4部分：1985及下列條款中給出定義。
3.1內(nèi)部缺陷
在材料厚度范圍內(nèi)的任何缺陷，例如，平面或?qū)訝钊毕荩瑔蚊婊蚨嗝鎶A雜帶或群。
3.2缺陷
有能接受的內(nèi)部缺陷，例如，超過(guò)規(guī)定的最大尺寸或總體密度極限。
3.3總體密度
在規(guī)定的每個(gè)單位邊緣帶長(zhǎng)度或每個(gè)單位本體面積內(nèi)，尺寸大于一個(gè)規(guī)定的最小尺寸，和小于一個(gè)獻(xiàn)寶的最大尺寸的單個(gè)內(nèi)部缺陷數(shù)量。]
3.4人工和輔助人工檢驗(yàn)
由操作人員把一個(gè)超聲波傳感器（即超聲波探頭）或幾個(gè)傳感器置于材料表面，在材料表面用人工制作適當(dāng)?shù)奶筋^掃描線，通過(guò)直接觀察或安裝在內(nèi)部的信號(hào)振幅報(bào)警裝置，用肉眼評(píng)定超聲波探傷儀屏幕上的超聲波信號(hào)指示。
3.5自動(dòng)和半自動(dòng)檢驗(yàn)
用機(jī)械方法把1個(gè)超聲波傳感器或多個(gè)傳感器置于材料表面，制作適當(dāng)?shù)膾呙杈�，通過(guò)電子手段評(píng)定超聲波信號(hào)指示。這種檢驗(yàn)可以是全自動(dòng)的，不需操作人員參與，或當(dāng)操作人員執(zhí)行基本的設(shè)備操作功能時(shí)，也可以是半自動(dòng)的。
4．驗(yàn)收等級(jí)
4.1材料本體驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)B1——B7的規(guī)范由表1給出（還可見圖1）。當(dāng)依照附錄A檢驗(yàn)時(shí)，如果材料滿足下列要求，就應(yīng)認(rèn)為是符合一個(gè)特殊的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。
（a）材料中不應(yīng)有大于表1中給出的最大的單個(gè)缺陷尺寸Bmax
（b）小于最大缺陷尺寸但大于最小缺陷尺寸的缺陷的總體密度不應(yīng)大于表1中的規(guī)定。
注：對(duì)于大于最小缺陷尺寸的一個(gè)缺陷，必須超過(guò)表1中給出的最小面積，最小長(zhǎng)度和最小寬度。
4.2材料邊緣驗(yàn)收等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)E1——E4的規(guī)范應(yīng)在表2中給出（還可見圖1）。當(dāng)依照附A檢驗(yàn)時(shí)，如果材料符合下列要求，就應(yīng)認(rèn)為是符合一個(gè)特殊的驗(yàn)收等級(jí)。
（a） 材料中不應(yīng)有大于表2中給出的最大單個(gè)缺陷面積Emax的內(nèi)部缺陷。
（b） 小于最大缺陷長(zhǎng)度，但大于最小缺陷長(zhǎng)度的缺陷的總體密度不應(yīng)大于表2中的規(guī)定。
4.3如果材料不符合一個(gè)特殊的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)，則必須采取下列步驟。
（a） 應(yīng)去除可疑面積，只要邊緣符合適用的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)，則應(yīng)認(rèn)為剩余面積是可以接受的。
（b） 該材料應(yīng)報(bào)廢.
表1 材料本體檢驗(yàn)驗(yàn)收規(guī)范
|
驗(yàn)收等級(jí) |
最大單個(gè)缺陷面積B maxmm2 |
考慮的最小缺陷尺寸(見注1和注2) |
小于Bmax`大于最小缺陷尺寸的缺陷的最大總體密度 |
最大掃描線間距S
mm |
|
面積mm 2 |
長(zhǎng)度mm |
寬度mm |
每1m×1 m平方的缺陷數(shù)量 |
每500mm×500 mm平方的缺陷數(shù)量 |
|
B1 |
10000 |
2500 |
100 |
20 |
5 |
_ |
100 |
|
B2 |
5000 |
1250 |
75 |
15 |
5 |
_ |
75 |
|
B3 |
2500 |
750 |
60 |
12 |
5 |
_ |
60 |
|
B4 |
1000 |
300 |
35 |
6 |
10 |
_ |
35 |
|
B5 |
500 |
150 |
15 |
6 |
_ |
10 |
15 |
|
B6 |
100 |
30 |
5 |
5 |
_ |
5 |
151) |
|
B71) |
50 |
25 |
5 |
5 |
3) |
_3) |
151) |
(1) 對(duì)于驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)B6和B7,給出的最大掃描線間距是以以使用一個(gè)直徑為25mm的探頭為基礎(chǔ).在使用較小探頭時(shí),最大掃描線間距應(yīng)是探頭的75%.
(2) 只用于奧氏體鋼板.
(3) 買方和生產(chǎn)廠之間應(yīng)協(xié)議對(duì)驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)B7的缺陷總體密度的要求。
注1：對(duì)一個(gè)大于最小缺陷尺寸的缺陷，必須均超過(guò)表1中給出的最小面積，最小長(zhǎng)度和最小寬度。長(zhǎng)度是和掃描軌跡呈直角的尺寸，寬度是平行于掃描軌跡的尺寸（見圖1）。
注2：為了確定可疑面積的范圍，當(dāng)兩個(gè)相鄰缺陷的間距小于這兩個(gè)相鄰缺陷中的短軸較小者時(shí)，這兩個(gè)相鄰缺陷應(yīng)作為一個(gè)缺陷考慮。
注3：驗(yàn)收等級(jí)B
x還可用于材料本體檢驗(yàn)。該等級(jí)的驗(yàn)收規(guī)范應(yīng)則買方和生產(chǎn)廠之間協(xié)議。
材料邊緣檢驗(yàn)的驗(yàn)收規(guī)范 表2
驗(yàn)收等級(jí) |
最大單個(gè)缺陷尺寸 |
考慮的最小缺陷長(zhǎng)度Lminmm |
最大總體密度（每1m長(zhǎng)度上小于最大缺陷尺寸，大于Lmin的缺陷數(shù)量 |
|
長(zhǎng)度Lmaxmm |
面積Emaxmm2 |
|
E1 |
50 |
1000 |
30 |
5 |
|
E2 |
30 |
500 |
20 |
4 |
|
E3 |
20 |
100 |
10 |
3 |
|
E4 |
10 |
50 |
8 |
2 |
（1）只用于奧氏體鋼板。
注1：E
max是縱向尺寸L
max和橫向尺寸的乘積，如果超過(guò)E
max或L
max，就認(rèn)為這個(gè)缺陷大于最大缺陷尺寸。
注2：長(zhǎng)度是平行于材料邊緣的尺寸。
注3：為了確定可疑的面積范圍，當(dāng)兩個(gè)相鄰缺陷的間距小于兩個(gè)相鄰缺陷中的短軸較小者時(shí)，這兩個(gè)相鄰缺陷應(yīng)作為一個(gè)缺陷考慮。
注4：驗(yàn)收等級(jí)E
x還可用于材料邊緣檢驗(yàn)。該等級(jí)的驗(yàn)收規(guī)范應(yīng)由買方和生產(chǎn)廠之間協(xié)議。
附A （標(biāo)準(zhǔn)）
鋼板、帶材和寬扁材的超聲波檢驗(yàn)方法
A.1 總述
A.1.1檢驗(yàn)階段
超聲波檢驗(yàn)應(yīng)在軋制狀態(tài)或在熱處理后交貨的材料上進(jìn)行。
A.1.2 人員
檢驗(yàn)應(yīng)生產(chǎn)廠指定的,具有認(rèn)可的合格資格證書的人員執(zhí)行。
注：資格證書的確認(rèn)由生產(chǎn)廠和買方協(xié)商。
A.1.3 表面狀態(tài)
材料應(yīng)足夠以保證檢驗(yàn)有效。表面可能有氧化鐵皮、臟物、油脂、涂料和其它干擾檢驗(yàn)的有效性的外來(lái)物質(zhì)。
A.2 裝置
A.2.1 總述
A.2.1.1 用于人工和輔助人工檢驗(yàn)的超聲波設(shè)備應(yīng)是脈沖回波型的，依照BS4331：1部分；1978的3部分；1974性能和校對(duì)檢驗(yàn)為準(zhǔn)。
A.2.1.2 用于自動(dòng)和半自動(dòng)檢驗(yàn)的超聲波設(shè)備應(yīng)能夠通過(guò)自動(dòng)觸發(fā)器\報(bào)警器區(qū)分可接受的和可疑的材料。
注1：這種區(qū)分可以結(jié)合對(duì)最大允許尺寸缺陷和密集缺陷等內(nèi)部缺陷面積的評(píng)估來(lái)實(shí)施。可能時(shí)要結(jié)合標(biāo)識(shí)或分類系統(tǒng)。
注2：在超聲波檢驗(yàn)之前，自動(dòng)和半自動(dòng)設(shè)備的性能應(yīng)由生產(chǎn)廠證明能令買方滿意，它能夠探測(cè)到要求的最小尺寸的缺陷。
A.2.1.3 應(yīng)使用一種能傳導(dǎo)超聲波探頭和將要檢驗(yàn)的材料表面之間的超聲波的一種液體介質(zhì)(例如：水或油)。介質(zhì)不應(yīng)對(duì)材料或其表面光潔度有有害影響。
A.2.2 超聲波探頭
A.2.2.1 應(yīng)使用一個(gè)公稱角度為0º的超聲波壓縮波傳感器。
用于自動(dòng)和半自動(dòng)檢驗(yàn)的超聲波傳感器應(yīng)是單探頭或雙探頭型。
用于人工和輔助人工檢驗(yàn)，超聲波探頭的類型應(yīng)如表A.1中規(guī)定。
用于人工和輔助人工檢驗(yàn)的超聲波探頭類型
表A.1
|
材料厚度t mm |
探頭類型 |
|
5≤t≤20 |
雙 |
|
20< t≤100 |
單(1)或雙 |
|
100< t≤200 |
單(1) |
（1） 當(dāng)使用一個(gè)單探頭時(shí)，應(yīng)采用下列之一：
（a） 在實(shí)際應(yīng)用中，近表面的死區(qū)不應(yīng)超過(guò)規(guī)定的材料厚度的15%或15 mm，或兩者中較小者。
（b） 若在（a）中規(guī)定的近表面死區(qū)不實(shí)際的話，應(yīng)在第一和第二個(gè)底波之間進(jìn)行檢驗(yàn)（見A.4.3）或從材料兩側(cè)檢驗(yàn)。
A.2.2.2 除非由于材料結(jié)構(gòu)而使材料表現(xiàn)出較高的超聲波衰減特性(例如:一些奧氏體鋼種或厚型材上)，否則，最小的超聲波檢驗(yàn)頻率應(yīng)該是2MHZ。
注：如果材料表現(xiàn)出高超聲波衰減特征，可以使用一個(gè)高超聲波衰減特征的材料，生產(chǎn)廠應(yīng)告知買方。
A.2.2.3 除非由于材料結(jié)構(gòu)使表現(xiàn)出較高的超聲波衰減特征（例如，一些奧氏體鋼種或厚型材上)，超聲波探頭的最大尺寸應(yīng)是25 mm。
注：如果材料表現(xiàn)出較高的超聲波衰減特征，可以使用一個(gè)較大的超聲波探頭。
如果打算把一個(gè)較大的超聲波探頭用于表現(xiàn)出較高超聲波衰減特征的材料，生產(chǎn)廠應(yīng)告知買方。
A.3 過(guò)程
A.3.1 總述
使用下列檢驗(yàn)方法之一
（a） 只檢驗(yàn)材料的一個(gè)表面，用超聲波脈沖回波技術(shù)探測(cè)內(nèi)部缺陷，超聲波通常在垂直于檢驗(yàn)表面的方向上透射。
（b） 如果由于材料結(jié)構(gòu)使材料表現(xiàn)出較高的超聲波衰減征（例如，一些奧氏體鋼種或厚型材上)，利用超聲波脈沖回波技術(shù)，從材料兩側(cè)檢驗(yàn)（如（a）所述）。在該情況下，生產(chǎn)廠應(yīng)能夠證明從每一側(cè)檢驗(yàn)了厚度超過(guò)50%的材料。
（c） 利用自動(dòng)超聲波透射技術(shù)檢驗(yàn)材料，可證明其效果等同于（a）中所述的超聲波脈沖回波技術(shù)。
A.3.2檢驗(yàn)材料本體
A.3.2.1 在人工和輔助人工檢驗(yàn)材料本體時(shí)，以不超過(guò)150mm/s的速度，彼此相對(duì)地移動(dòng)材料和探頭裝置，沿著和主軋制方向呈直角的平等的等距掃描線，掃描材料表面，以保證探測(cè)出具有極限長(zhǎng)度和寬度尺寸的相關(guān)的最小尺寸的缺陷（見表1）
最大掃描線間距應(yīng)如表1中所示。
A.3.2.2 在自動(dòng)和半自動(dòng)檢驗(yàn)材料本體時(shí)，彼此相對(duì)地移動(dòng)材料和探頭裝置，這樣沿著等距的掃描線掃描材料表面，以保證探測(cè)到具有極限長(zhǎng)度和寬度尺寸的相關(guān)的最小尺寸的缺陷（見表7）。
相對(duì)于沿掃描線相對(duì)移動(dòng)的每個(gè)探頭的脈沖重復(fù)頻率應(yīng)足以保證探測(cè)有關(guān)的最小長(zhǎng)度和寬度尺寸的缺陷（見表1）。
A.3.3 檢驗(yàn)材料邊緣
在檢驗(yàn)材料邊緣時(shí)，彼此相對(duì)地移動(dòng)材料和探頭裝置，這樣從最后切邊定位的整個(gè)區(qū)域內(nèi)能100%地掃描材料表面。為了探測(cè)有關(guān)的最小缺陷長(zhǎng)度L
min（見表2），該區(qū)域的寬度應(yīng)如表2所示。
注：縱邊是平等于主軋制方向的邊，橫邊是和主軋?bào)练较虺手苯堑倪叀?nbsp;
表A.2 用于材料邊緣檢驗(yàn)的區(qū)域?qū)挾?br />
|
材料厚度t mm |
區(qū)域?qū)挾?nbsp; mm |
|
5≤t≤33.3 |
50 |
|
33.3< t≤66.6 |
1.5 t |
|
66.6< t≤200 |
100 |
A.4 檢驗(yàn)靈敏度
A.4.1 靜態(tài)調(diào)整超聲波設(shè)備和傳感器,確定檢驗(yàn)靈敏度如下：
（a） 僅對(duì)于驗(yàn)收等級(jí)B1——B4和E1——E2調(diào)整設(shè)備靈敏度，在材料的完好部位上得出的第一個(gè)底波波高在熒光屏上的100%；或
（b） 對(duì)于驗(yàn)收等級(jí)B5和其以上的等級(jí)，依據(jù)附B，利用有關(guān)的距離振幅修正（DAC）曲線，參考試塊，確定設(shè)備靈敏度�；�
（c） 對(duì)于自動(dòng)和關(guān)自動(dòng)檢驗(yàn)設(shè)備，保證在檢驗(yàn)靈敏度上，設(shè)備將探測(cè)到在靜狀態(tài)下標(biāo)準(zhǔn)試件中適當(dāng)?shù)膮⒖寄繕?biāo)。
A.4.2 對(duì)于驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)B5——B７，Ｅ３的Ｅ４，用一個(gè)直徑５mm的平底孔作參考目標(biāo)。
注：對(duì)于驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)Ｂ
Ｘ和Ｅ
Ｘ，買方和廠方應(yīng)協(xié)議參考目標(biāo)的直徑。
A.4.３ 除非表Ａ.１中另有規(guī)定，調(diào)整超聲波設(shè)備，使超聲波全厚度掃描在入射面和底面之間進(jìn)行，以便在這段時(shí)間內(nèi)清楚地識(shí)破來(lái)自內(nèi)部缺陷的信號(hào)響應(yīng)．
A.4.４ 當(dāng)使用ＤＡＣ曲線時(shí)，調(diào)整檢驗(yàn)靈敏度，在準(zhǔn)備ＤＡＣ曲線時(shí)，通過(guò)檢驗(yàn)用試塊和檢驗(yàn)材料之間衰減率的差別，確定靈敏度，要考慮到材料厚度。。
A.4.5生產(chǎn)試驗(yàn)相同厚度和缸中的材料過(guò)程中，要定期校驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)靈敏度。校驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)靈敏度的周期應(yīng)至少每8小時(shí)1次。
A.4.6在任何系統(tǒng)更換或當(dāng)規(guī)定的公稱材料厚度或鋼種改變時(shí)，要重新調(diào)整設(shè)備檢驗(yàn)靈敏度。
A4.7如果在生產(chǎn)試驗(yàn)過(guò)程中，甚至在提高靈敏度2dB并允許系統(tǒng)漂移后，發(fā)現(xiàn)檢驗(yàn)靈敏度不能令人滿意；則靈敏度檢測(cè)前，所有檢驗(yàn)的材料應(yīng)在設(shè)備檢驗(yàn)靈敏度重新調(diào)整以后重新檢驗(yàn)，除非備有從單個(gè)可識(shí)別材料中得出的記錄數(shù)據(jù)，能夠準(zhǔn)確地分出可疑的和可接受的兩類。
A.5 缺陷規(guī)范
A.5.1 等級(jí)B1——B4和E1、E2存在的內(nèi)部缺陷有下列幾條指示：
(a)有或沒(méi)有一個(gè)缺陷回波的存在，底波的信號(hào)振幅減少50%；
（b）一個(gè)缺陷波使底波下降50%或超過(guò)50%。
A.5.2等級(jí)B5及B5以上和E3及E3以上存在的內(nèi)部缺陷有以下指示：
(a)有或沒(méi)有缺陷回波，底波的信號(hào)振幅減少50%。
（b）存在一個(gè)缺陷回波，等于或超過(guò)相同深度的一個(gè)參照目標(biāo)的響應(yīng)，即：等于或超過(guò)DAC曲線。
注：在要求檢驗(yàn)靈敏度較高的材料上，第一個(gè)底波信號(hào)可以是飽和狀態(tài)。在此情形下，有必要用降低的靈敏度再進(jìn)行一次掃描，以檢驗(yàn)(a)中所述的缺陷。
A.5.3 缺陷的評(píng)定
如果探測(cè)到任何缺陷，可通過(guò)下列方法評(píng)定每個(gè)區(qū)域的缺陷：
(a) 依據(jù)附C，通過(guò)人工技術(shù)確定那個(gè)面積內(nèi)的缺陷大小和夾雜物密度；或
（b）利用一個(gè)能被證明能準(zhǔn)確地描繪缺陷的自動(dòng)系統(tǒng)。
A.6 檢驗(yàn)報(bào)告
當(dāng)要求時(shí)，廠方應(yīng)向買方提交一份檢驗(yàn)報(bào)告。最低限度應(yīng)包括下列信息：
（a） 材料（鋼種、熔煉號(hào)）識(shí)別和尺寸；
（b） 材料狀態(tài)（例如：軋制、正火）；
（c） 探頭型號(hào)、尺寸和頻率；
（d） 檢驗(yàn)設(shè)備型號(hào)和模式；
（e） 使用的介質(zhì)；
（f） 掃描模式；
（g）與本英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)的有關(guān)驗(yàn)收等級(jí)相一致的報(bào)告；
（h）操作人員的身份（UT）資格證書）。
附B 用于建立一個(gè)距離振幅修正（DAC）曲線的技術(shù)
B.1 原理
在該技術(shù)中，在聲波入射面下，同一材料深度上比較從一個(gè)內(nèi)部缺陷返回的能量和從一個(gè)參照返回的能量。
通過(guò)選擇一個(gè)適當(dāng)?shù)膮⒄漳繕?biāo)，確立一個(gè)臨界信號(hào)響應(yīng)曲線，內(nèi)部缺陷在該曲線處變得明顯并將隨之開始規(guī)定的變化。
對(duì)照目標(biāo)通常是一個(gè)平底孔，但是，只要選擇的凹口的長(zhǎng)度和寬度能提供一個(gè)基本上等于利用同樣設(shè)備傳感器類組合，從規(guī)定的平底孔得到的超聲波信號(hào)，也允許使用三角形凹口。
該技術(shù)要求提供一個(gè)專門準(zhǔn)備的接近被檢驗(yàn)材料厚度的檢驗(yàn)用試塊，在不斷加深的材料深度上，該試塊包含一系列的直徑相同的平底孔目標(biāo)。
B.2 檢驗(yàn)用參考試塊
注：在實(shí)際應(yīng)用中，檢驗(yàn)用試塊應(yīng)具有和檢驗(yàn)材料基本相似的聲波性能。入射表面應(yīng)平直，內(nèi)部沒(méi)有經(jīng)常出現(xiàn)的可識(shí)別的超聲波響應(yīng)的內(nèi)部缺陷。如果檢驗(yàn)用試塊的衰減系數(shù)明顯不同于被檢驗(yàn)的材料，則應(yīng)采用靈敏度補(bǔ)償（見A.4.４）。
檢驗(yàn)用試塊的外部尺寸，長(zhǎng)度和寬度應(yīng)由廠方選擇，以便參照目標(biāo)能滿足彼此和從檢驗(yàn)用試塊的端面及棱邊分開，以避免相互開撓，這樣就可以從每個(gè)參照目標(biāo)上得到一個(gè)清晰地可分辨的信號(hào)指示。檢驗(yàn)用試塊的較低表面，便于采用參照目標(biāo)。
對(duì)于優(yōu)質(zhì)鋼種B5——B7，E3和E4，平底孔參照目標(biāo)的直徑應(yīng)是5mm。
注：對(duì)于優(yōu)質(zhì)鋼種BX和EX，買方和供方之間應(yīng)協(xié)議平底孔參照目標(biāo)的直徑。
使用的平底孔的直徑和凹口的寬度公差應(yīng)是±5%。每個(gè)參照目標(biāo)的底部應(yīng)是標(biāo)準(zhǔn)平直的，平行于超聲波入射面（在2%以內(nèi)），且沒(méi)有能明顯地降低其超聲波反射能力的凹坑或劃痕標(biāo)志。參照目標(biāo)的邊側(cè)應(yīng)垂直于超聲波入射面。
B.3 DAC曲線的結(jié)構(gòu)
對(duì)檢驗(yàn)用規(guī)塊中的每個(gè)對(duì)照目標(biāo)的響應(yīng)作一個(gè)最初的評(píng)定，以確定哪個(gè)參照目標(biāo)給出最大響應(yīng)。
用經(jīng)過(guò)最大響應(yīng)的參照目標(biāo)而優(yōu)選的探頭，調(diào)整設(shè)備增益/衰減器控制，設(shè)定回波高度大約為整個(gè)熒屏高度的80%。在熒屏上標(biāo)出回波尖端的位置，記錄增益/衰減器值。
該增益調(diào)整是檢驗(yàn)靈敏度。
在記錄的增益/衰減器值中，優(yōu)選檢驗(yàn)用試塊中每隔一個(gè)參照目標(biāo)上的傳感器，反過(guò)來(lái)，對(duì)于每個(gè)目標(biāo)，要標(biāo)出回波尖端在熒屏上的位置。
在熒屏上畫一條連接標(biāo)出點(diǎn)的缺陷探測(cè)器的曲線。該曲線是DAC曲線，不包括檢驗(yàn)用規(guī)塊/缺陷探測(cè)器/傳感器組合使用在內(nèi)。在使用其它組合時(shí)，應(yīng)建立獨(dú)立曲線。
附C 通過(guò)人工超聲波掃描測(cè)定內(nèi)部缺陷的大小
C.1 總述
人工超聲波脈沖回波掃描測(cè)定鋼板、帶材、寬扁材內(nèi)部缺陷大小的過(guò)程在C.2中敘述。
該過(guò)程采用已知的6ｄＢ衰減法或半波法，以這一事實(shí)為基礎(chǔ)，即當(dāng)半個(gè)超聲波聲束擊到一個(gè)內(nèi)部缺陷時(shí)，缺陷回波振幅從最大的缺陷回波振幅上減小了6ｄＢ。
該方法能準(zhǔn)確地描繪等于或大于探頭面積的一個(gè)缺陷。對(duì)于較小的缺陷，該方法在一定程度上將缺陷尺寸放大。
該方法適用于描繪表1中的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)B1-B5和表2中E1-E的缺陷尺寸。
對(duì)于驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)B6、B7、BX、E4和EX，可以采用該方法，但是缺陷尺寸放大會(huì)造成不準(zhǔn)確。在這些情況下，可使用其它適用的測(cè)尺寸技術(shù)。
C.2 過(guò)程
將探頭置于缺陷上反復(fù)掃描以獲得最大的回波振幅.調(diào)整增益值,以便使信號(hào)振幅位于整個(gè)熒屏高度的40%到80%之間。記下實(shí)際高度。把增益值提高到6ｄＢ，在缺陷邊緣上方移動(dòng)傳感器，直到缺陷回波降至記錄的熒屏高度。然后，缺陷的邊緣和傳感器的軸重合。在很多方向上重復(fù)該動(dòng)作，這對(duì)描繪缺陷邊緣很有必要。當(dāng)使用雙晶傳感器時(shí)，雙晶體的隔聲層應(yīng)和缺陷的周邊呈直角。
如果內(nèi)部缺陷嚴(yán)重地按超聲波聲束定向，就認(rèn)為其邊緣和探頭的軸在第一個(gè)底波的信號(hào)振幅降低到6ｄＢ的那一點(diǎn)上重合。測(cè)繪完內(nèi)部缺陷的邊緣后，測(cè)定其平行于和橫向于軋制方向的最大尺寸。該尺寸的乘積被定義為缺陷的面積。
